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USB 3.0 中Differential-to-common-mode conversion含意？ - 無(wú)圖版
jakezheng --- 2009-03-21 15:40:13
1
wanglitao --- 2009-03-22 13:29:14
2
jakezheng --- 2009-03-23 13:45:31
3
jakezheng --- 2009-03-23 15:58:22
4
它和EMI又有什么關(guān)系呢？
leoleeson --- 2009-03-24 02:38:25
5
Differential to Common Mode Conversion主要乃用來(lái)測(cè)試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)
當(dāng)一對(duì)訊號(hào)線(例如為D+與D-)的訊號(hào)產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時(shí), SCD21就會(huì)變差.此一差異會(huì)導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號(hào))產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).
要解決此一問(wèn)題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.
從生產(chǎn)Cable的角度來(lái)說(shuō),衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至於相位就與絕緣的介電係數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.
希望以上的解釋可以幫助你分析.
另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無(wú)法PASS(在USB3.0為-20dB)時(shí),通常此時(shí)的Cable Intra Pair Skew也會(huì)偏大.
Leo Lee
leoleeson --- 2009-03-24 02:46:30
6
Differential to Common Mode Conversion主要乃用來(lái)測(cè)試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)
當(dāng)一對(duì)訊號(hào)線(例如為D+與D-)的訊號(hào)產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時(shí), SCD21就會(huì)變差.此一差異會(huì)導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號(hào))產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).
要解決此一問(wèn)題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.
從生產(chǎn)Cable的角度來(lái)說(shuō),衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至于相位就與絕緣的介電系數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.
希望以上的解釋可以幫助你分析.
另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無(wú)法PASS(在USB3.0為-20dB)時(shí),通常此時(shí)的Cable Intra Pair Skew也會(huì)偏大.
Leo Lee
jakezheng --- 2009-03-24 08:18:59
7
李小龍 --- 2009-03-24 08:25:10
8
取個(gè)名字難 --- 2009-03-24 09:27:48
9
leoleeson:
Differential to Common Mode Conversion主要乃用來(lái)測(cè)試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)
當(dāng)一對(duì)訊號(hào)線(例如為D+與D-)的訊號(hào)產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時(shí), SCD21就會(huì)變差.此一差異會(huì)導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號(hào))產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).
要解決此一問(wèn)題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.
從生產(chǎn)Cable的角度來(lái)說(shuō),衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至于相位就與絕緣的介電系數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.
希望以上的解釋可以幫助你分析.
另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無(wú)法PASS(在USB3.0為-20dB)時(shí),通常此時(shí)的Cable Intra Pair Skew也會(huì)偏大.
Leo Lee
很好 很強(qiáng)大�。。�
Cabler --- 2009-03-24 09:55:57
10
高人出現(xiàn)了
jakezheng --- 2009-03-24 17:22:47
11
如果Differential to Common Mode Converion pass的話，那是不是代表著EMI測(cè)試也能通過(guò)呢？
不知道有沒(méi)有直接的換算關(guān)系？
leoleeson --- 2009-03-24 23:24:31
12
Dear Jakezheng,
在USB3.0 Assembly Differential to Common Mode 雖然Pass,也不能代表系統(tǒng)測(cè)試EMI可以完全的PASS.
因?yàn)檎麄�(gè)EMI測(cè)試是整機(jī)含cable測(cè)試,所以即時(shí)你的Cable Pass規(guī)格上所言的SCD21,但也不能代表說(shuō)你的Cable可以與任何的系統(tǒng)整合測(cè)試EMI完全沒(méi)有問(wèn)題.
但從另一個(gè)角度來(lái)說(shuō),若你的USB3.0 Assembly可以PASS SCD21,已經(jīng)代表你具備相當(dāng)?shù)牡挚鼓芰?
Leo Lee
jakezheng --- 2009-03-25 19:28:31
13
Thank you ！Leoleeson
EMI和線材的總屏蔽及編織等都有極大的關(guān)系，但Differential to Common Mode參數(shù)好像跟總屏蔽及編織等沒(méi)有關(guān)系（不知道您是否認(rèn)同）？
Differential to Common Mode參數(shù)越好，就說(shuō)明我的產(chǎn)品對(duì)外界的輻射或傳導(dǎo)最�。ㄔ诓豢紤]屏蔽的情況下）。
Jake
lakehu --- 2009-03-26 09:25:07
14
lianguan --- 2009-03-26 16:10:32
15
liangxiao --- 2009-03-27 16:44:20
16
Dear Jakezheng,
在USB3.0 Assembly Differential to Common Mode 雖然Pass,也不能代表系統(tǒng)測(cè)試EMI可以完全的PASS.
因?yàn)檎麄�(gè)EMI測(cè)試是整機(jī)含cable測(cè)試,所以即時(shí)你的Cable Pass規(guī)格上所言的SCD21,但也不能代表說(shuō)你的Cable可以與任何的系統(tǒng)整合測(cè)試EMI完全沒(méi)有問(wèn)題.
但從另一個(gè)角度來(lái)說(shuō),若你的USB3.0 Assembly可以PASS SCD21,已經(jīng)代表你具備相當(dāng)?shù)牡挚鼓芰?
Leo Lee
Bizlarry --- 2009-03-28 16:38:16
17
rainy0910 --- 2009-03-30 12:29:15
18
cnvito --- 2009-03-31 16:21:02
19
差模還是共模的
jakezheng --- 2009-04-02 18:12:48
20
如果Differential to Common Mode Converion pass的話，那是不是代表著EMI測(cè)試也能通過(guò)呢？ 不知道有沒(méi)有直接的換算關(guān)系？ 短訊 搜索 引用 回復(fù) [在線] POST:2009-3-24 17:22:48 [編輯] [刪除] No.11
<DIV class=xxxxContent id=deds11 style="OVERFLOW: auto; WIDTH: 100%">
jakezheng --- 2009-04-06 12:01:52
21
Thank you ！Leoleeson
EMI和線材的總屏蔽及編織等都有極大的關(guān)系，但Differential to Common Mode參數(shù)好像跟總屏蔽及編織等沒(méi)有關(guān)系（不知道您是否認(rèn)同）？
Differential to Common Mode參數(shù)越好，就說(shuō)明我的產(chǎn)品對(duì)外界的輻射或傳導(dǎo)最�。ㄔ诓豢紤]屏蔽的情況下）。
Jake
why81yang --- 2009-04-11 09:52:48
22
跟著老大長(zhǎng)了不少見(jiàn)識(shí)
紫月 --- 2009-04-11 15:24:29
23
jizhuan501 --- 2009-05-08 12:50:42
24
Differential to Common Mode Conversion主要乃用來(lái)測(cè)試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)
當(dāng)一對(duì)訊號(hào)線(例如為D+與D-)的訊號(hào)產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時(shí), SCD21就會(huì)變差.此一差異會(huì)導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號(hào))產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).
要解決此一問(wèn)題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.
從生產(chǎn)Cable的角度來(lái)說(shuō),衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至於相位就與絕緣的介電係數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.
希望以上的解釋可以幫助你分析.
另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無(wú)法PASS(在USB3.0為-20dB)時(shí),通常此時(shí)的Cable Intra Pair Skew也會(huì)偏大.
Leo Lee
兩個(gè)字：“專業(yè)”！
jakezheng --- 2009-05-13 08:01:26
25
jackyhoofan --- 2009-05-18 16:32:31
26
厘科在USB3.0這段跑的比較快.
hongx --- 2009-06-19 16:11:34
27
wwj1020 --- 2009-06-20 16:58:07
28
厲害啊，學(xué)習(xí)了
chq2006 --- 2009-06-20 22:05:55
29
以下也有這個(gè)測(cè)試介紹
http://www.--connworld.com/Newsarticle/jiadian/200941162936.htm
海天一色 --- 2009-06-21 18:32:51
30
nhy0201423 --- 2009-06-25 16:48:50
31
mj14 --- 2009-11-24 17:21:57
32
個(gè)人理解:EMI與所謂的屏蔽不完全成正比.........而要與高頻還是低頻產(chǎn)生的EMI對(duì)應(yīng)選擇合適的材料
在USB3.0中.如果想通過(guò)差分-同模的測(cè)試的話.分析以為
1.控制好兩對(duì)STP的包帶.減少相互間的影響.
2選擇相對(duì)鋁基較厚的鋁箔試樣,但不宜破壞鋁基的連續(xù)性.同時(shí)也要注意包帶的緊密性.
期待好結(jié)果共同努力
試樣中
coolman --- 2010-05-31 10:53:24
33
Timliu --- 2010-05-31 11:48:27
34
差共模轉(zhuǎn)換,學(xué)習(xí)了
dawn3l --- 2010-05-31 11:52:40
35
coolman --- 2010-06-02 10:26:20
36
long9590 --- 2010-06-02 14:33:33
37
選擇相對(duì)鋁基較厚的鋁箔,的確有幫助！
XIFUWANG --- 2010-06-03 16:31:56
38