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Differential to Common Mode Conversion主要乃用來測試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)
當一對訊號線(例如為D+與D-)的訊號產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時, SCD21就會變差.此一差異會導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號)產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).
要解決此一問題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.
從生產(chǎn)Cable的角度來說,衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至於相位就與絕緣的介電係數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.
希望以上的解釋可以幫助你分析.
另外,當你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無法PASS(在USB3.0為-20dB)時,通常此時的Cable Intra Pair Skew也會偏大.
Leo Lee
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Differential to Common Mode Conversion主要乃用來測試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)
當一對訊號線(例如為D+與D-)的訊號產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時, SCD21就會變差.此一差異會導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號)產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).
要解決此一問題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.
從生產(chǎn)Cable的角度來說,衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至于相位就與絕緣的介電系數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.
希望以上的解釋可以幫助你分析.
另外,當你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無法PASS(在USB3.0為-20dB)時,通常此時的Cable Intra Pair Skew也會偏大.
Leo Lee
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leoleeson:
Differential to Common Mode Conversion主要乃用來測試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)
當一對訊號線(例如為D+與D-)的訊號產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時, SCD21就會變差.此一差異會導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號)產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).
要解決此一問題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.
從生產(chǎn)Cable的角度來說,衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至于相位就與絕緣的介電系數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.
希望以上的解釋可以幫助你分析.
另外,當你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無法PASS(在USB3.0為-20dB)時,通常此時的Cable Intra Pair Skew也會偏大.
Leo Lee
很好 很強大。!
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Dear Jakezheng,
在USB3.0 Assembly Differential to Common Mode 雖然Pass,也不能代表系統(tǒng)測試EMI可以完全的PASS.
因為整個EMI測試是整機含cable測試,所以即時你的Cable Pass規(guī)格上所言的SCD21,但也不能代表說你的Cable可以與任何的系統(tǒng)整合測試EMI完全沒有問題.
但從另一個角度來說,若你的USB3.0 Assembly可以PASS SCD21,已經(jīng)代表你具備相當?shù)牡挚鼓芰?
Leo Lee
