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最近在做CAT6 UTP PVC樣品時，ATT出現(xiàn)在8~200MHz不過，100M測試，描述見下：

1，  不良出現(xiàn)在最小2個節(jié)距，8MHz以下ATT 正常，余量>0.2，

2，  導(dǎo)體絕緣搭配正常，特性阻抗在100+/-5內(nèi)，

分析：

1，  電容OK，<56pF/m。正常

2，  導(dǎo)體直流電阻<73.2Ω/km,無氧化，表面光潔。正常

3，  護(hù)套雙緊正常，10CM輕易剝離，正常

4，  前期出現(xiàn)4對ATT在8~200MHz不過，為護(hù)套材料內(nèi)成分問題，同一盤線用一半改用更優(yōu)質(zhì)PVC后 ATT正常，但這次是其中2對，護(hù)套問題不大。

5，  絕緣介質(zhì)損耗角可能會對ATT 較高頻率段有影響，但用的是淘氏3364，4對色母配比一樣，而且有2對是OK的，而這批樣品與定單是同一天開的，用同樣的料，定單一切正常，定單線節(jié)距同樣品線節(jié)距一樣，偏心正常

6，  對絞機為同一臺機。

7，  濕度問題：認(rèn)為線進(jìn)水，連續(xù)拉2個100M，表現(xiàn)一樣。如果環(huán)境濕度問題，放在測試間一晚上，沒有變化，

8，  測試方面，設(shè)備----上纜所CTS和美國DCM測試表現(xiàn)都一樣

             溫度-----把溫度設(shè)定在30度和冷卻1晚上到室溫表現(xiàn)一樣。

9，節(jié)距方面：如果是小節(jié)距的問題，整個公司6類都用同樣節(jié)距，應(yīng)該節(jié)距問題不大

總的來說。他有2對是合格的。，如果是在8MHz以下不過，問題就很好解決，但現(xiàn)在是在8MHz以后。頭疼啊，

現(xiàn)在是真不知道原因在那里了，

需要知道：

導(dǎo)體，絕緣直徑，節(jié)距，測試圖。

兄弟,如果你是用0.58導(dǎo)體,建議電容不要超過5.25

如果你是用0.57導(dǎo)體,建議電容不要超過5.1.

表達(dá)上是很好，不知道你們總公司的Sample怎麼樣？3364是臺塑的PE，用3366的呢?

做法上是沒有問題，高頻Att 不過，這是常有的事情，不知道NEXT怎麼樣？最好給我個測報看看？

兄弟，現(xiàn)在溫度這么高，很難通過的啊，標(biāo)準(zhǔn)的測試溫度是20度，你試試降到20度測試一下，還有的阻抗值與之前的有沒有變化？

何以見得我是耐克森的？

其實我不是的，呵呵，不過我們也是做LAN Cable的

應(yīng)該是臺資厰

導(dǎo)體為0.57,我認(rèn)為這點上沒有問題,此樣品我做個2次,第一次very good,  同樣的工藝,第2次就出現(xiàn)這樣的情況,NEXT>10dB,其他指標(biāo)都很好,擬合阻抗99-101,也就是說設(shè)計上沒有問題,也不會是PE問題,同批PE用在0.58上就沒出現(xiàn)ATT不良,冷卻到室溫測試,除ATT稍好點外,但是ATT在8MHz后還是不過,其他指標(biāo)沒變化,就3樓說的電容問題,電容不要超過5.25,說實話,>5.25,<5.6,衰減一樣能通過,這是偶然,較高頻Att 不過,是很少發(fā)生的,而在較低頻ATT不過,是經(jīng)常會出現(xiàn),最重要的一點是為什么不在8MHZ以下,而是在8MHZ以上?對絞張力存在的嫌疑最大..

樓主，如果你做過樣品合格的話，那就說明你的工藝沒問題，至于后面做又有問題，那可能是在生產(chǎn)過程中，哪個環(huán)節(jié)出了問題！

原因在那里呢

［stevedf 在 2008-7-7 19:48:54 編輯過］

很有可能是芯線部分被刮到，芯線在對絞或總絞時可能被刮到。

［xiongwei 在 2008-7-7 21:41:37 編輯過］

導(dǎo)體為0.57;(同批PE用在0.58上又沒有問題,

是用2種導(dǎo)體嗎? 還是怎么樣;

另外建議阻抗可在 開高點.  不良是在那里不良  8MHZ以上是上到多少.

如果就在這點那很有可能就是你的導(dǎo)體有問題或制程造成電線不良有刮到的可能是;(不良是否只為突然波峰)

DCM我記得不可以勾輸入阻抗.不知道你們測試的輸入阻抗是怎么樣.?

stevedf:

導(dǎo)體為0.57,我認(rèn)為這點上沒有問題,此樣品我做個2次,第一次very good,  同樣的工藝,第2次就出現(xiàn)這樣的情況,NEXT>10dB,其他指標(biāo)都很好,擬合阻抗99-101,也就是說設(shè)計上沒有問題,也不會是PE問題,同批PE用在0.58上就沒出現(xiàn)ATT不良,冷卻到室溫測試,除ATT稍好點外,但是ATT在8MHz后還是不過,其他指標(biāo)沒變化,就3樓說的電容問題,電容不要超過5.25,說實話,>5.25,<5.6,衰減一樣能通過,這是偶然,較高頻Att 不過,是很少發(fā)生的,而在較低頻ATT不過,是經(jīng)常會出現(xiàn),最重要的一點是為什么不在8MHZ以下,而是在8MHZ以上?對絞張力存在的嫌疑最大..

1、NEXT>10dB，做6A的電纜水平，節(jié)距太小，如果用0.57，其中兩對線肯定不過，即使過了，余量很小，夏天測試可能就不過。

2、擬合阻抗99-101，明顯電容偏大。不知道是用什么儀器測的？只有不考慮衰減指標(biāo)時，才將擬合阻抗設(shè)計成99－101。特性阻抗和回波余量會很大。

你對NEXT和阻抗要求指標(biāo)做得很嚴(yán)，從而損失衰減指標(biāo)要求。不知道為什么這么做？

節(jié)距不會太小,第1,全部6號纜用的都是這個節(jié)距,0.55導(dǎo)體CAT6 UTP一樣在用這個節(jié)距,ATT一樣>0.2,并未出現(xiàn)這樣問題,

第2,ATT不是尖峰,說明線未被刮傷,

第3,擬合阻抗設(shè)計成99－101,是為保證較好的RL,如果把絕緣做大,把擬合阻抗做高來提高ATT余量,那么RL會在20MHZ前段整體掉下來,RL沒有好的余量,

第4,這個節(jié)距一樣用在0.55,0.58,0.565導(dǎo)體結(jié)構(gòu)上.基本上一年中是看不到ATT在8MHZ后不良.

第5, 0.57結(jié)構(gòu)第1次并未出現(xiàn)ATT 8MHZ后不良,

第6,NEXT和阻抗指標(biāo)做得很嚴(yán)，衰減指標(biāo)一樣得考慮,我相信客戶是要這樣的結(jié)果,也可以在市場上有競爭力,對于擬合阻抗的問題,我曾經(jīng)把阻抗做到102(100MHZ),有客戶就提出說太高.沒辦法,他們就是這樣要求完美.

還是那樣,為什么不在8MHZ以下,而是在8MHZ以上?而我們所說的ATT余量,很大程度上出現(xiàn)的4MHZ以下余量為最小.,此線偏偏在4MHZ以下有足夠余量.

［stevedf 在 2008-7-8 8:42:37 編輯過］

對于不同的線徑，建議采用不同的節(jié)距。

不過，你說0.55的線也用這個節(jié)距，說明你的節(jié)距不可能小，我們做過0.546，最小的只有13.5。

有兩對線過，兩對線不過。兩對線肯定是大節(jié)距，所以過，另兩對線是小節(jié)距，所以不過。

一般在高頻衰減不過，主要是電容偏大或?qū)�體電阻偏大。

衰減圖形有三種：

1、一種是低頻余量小于高頻余量。原因是導(dǎo)體直徑偏小或節(jié)距偏小，絕緣外徑偏大或電容偏小。

2、一種是低頻余量大于高頻余量。原因是導(dǎo)體直徑偏大或節(jié)距偏大，電容偏大。

3、一種是低頻余量接近高頻余量。這是理想狀態(tài)，阻抗和回波余量較大。

建議：

1、將以前合格的線測試一下，是不是儀器問題。

2、如果儀器沒有問題，將以前的線與目前的線的測試報告對比一下，一次參數(shù)有沒有變化。

3、一次參數(shù)變化很大，請查找工藝控制記錄，是否測量設(shè)備故障。

4、如果生產(chǎn)控制沒問題，請查找計米是否有誤差。

5、如果生產(chǎn)控制、計米沒有誤差，一次參數(shù)變化很大，材料有問題。

如果還找不到原因，請你將工藝參數(shù)和測試報告郵寄給我。我?guī)湍阕觥?/P>

量一下導(dǎo)體直徑，查查設(shè)備是不是張力有問題！

衰減圖形有三種：

1、一種是低頻余量小于高頻余量。原因是導(dǎo)體直徑偏小或節(jié)距偏小，絕緣外徑偏大或電容偏小。

2、一種是低頻余量大于高頻余量。原因是導(dǎo)體直徑偏大或節(jié)距偏大，電容偏大。

3、一種是低頻余量接近高頻余量。這是理想狀態(tài)，阻抗和回波余量較大。

關(guān)于你說的第2點,我想也不太可能,如果是導(dǎo)體直徑偏大,那么阻抗會偏低,但是特性阻抗為100(100MHZ),無此現(xiàn)象.如果是節(jié)距出了問題,NEXT也許會表現(xiàn)出來,關(guān)于材料方面影響,我也遇見過1次(見主題描述).

接下來的工作,繼續(xù)中.......

各位兄弟,這里高手如云,我受教了.

如果你做過屏蔽數(shù)據(jù)纜，你可能會有更深的體會。

胡涂:

對于不同的線徑，建議采用不同的節(jié)距。

不過，你說0.55的線也用這個節(jié)距，說明你的節(jié)距不可能小，我們做過0.546，最小的只有13.5。

有兩對線過，兩對線不過。兩對線肯定是大節(jié)距，所以過，另兩對線是小節(jié)距，所以不過。

一般在高頻衰減不過，主要是電容偏大或?qū)�體電阻偏大。

衰減圖形有三種：

1、一種是低頻余量小于高頻余量。原因是導(dǎo)體直徑偏小或節(jié)距偏小，絕緣外徑偏大或電容偏小。

2、一種是低頻余量大于高頻余量。原因是導(dǎo)體直徑偏大或節(jié)距偏大，電容偏大。

3、一種是低頻余量接近高頻余量。這是理想狀態(tài)，阻抗和回波余量較大。

建議：

1、將以前合格的線測試一下，是不是儀器問題。

2、如果儀器沒有問題，將以前的線與目前的線的測試報告對比一下，一次參數(shù)有沒有變化。

3、一次參數(shù)變化很大，請查找工藝控制記錄，是否測量設(shè)備故障。

4、如果生產(chǎn)控制沒問題，請查找計米是否有誤差。

5、如果生產(chǎn)控制、計米沒有誤差，一次參數(shù)變化很大，材料有問題。

如果還找不到原因，請你將工藝參數(shù)和測試報告郵寄給我。我?guī)湍阕觥?/P>

 

我對第一條,絕緣外徑大會引起低頻余量小于高頻余量有點疑問?據(jù)我現(xiàn)在所知,以及經(jīng)驗都與這個相反

屏蔽數(shù)據(jù)纜更加復(fù)雜,因為鋁層厚度對ATT有影響,6A已經(jīng)開發(fā)成功,現(xiàn)在我正在開發(fā)CAT7,相信會成功的,關(guān)于上面主題,ATT不良已找到原因,已解決.

能把你找到的原因公布下拉，也讓我們知道下。

都是高手啊

你把導(dǎo)體放大一點嗎

這種情況,我在做CAT.6A時有遇到過:

原因有兩個:1.芯線OD不穩(wěn)定

                       2.對絞或總絞張力不穩(wěn)定

測試圖是最重要的

只有看到圖才好分析啊

還是希望樓主能夠分享一下經(jīng)驗