繞包線在信號(hào)完整性測(cè)試中，其衰減曲線在某一頻率下出現(xiàn)極值點(diǎn)(英文稱Swck out)，這是什么因素導(dǎo)致的？

游客:

suck

這個(gè)suck out的影響因素是什么？有這方面的研究報(bào)道嗎？

高速傳輸線中周期性缺陷結(jié)構(gòu)引起的高跌落插入損耗

High Dip Insertion Loss Due to Periodic Defect Structure in High Speed Transmission Line

Dau-Cyrh Chang ^*#1 , Hsiao-Bin Liang ^#2 , Jian-Ren Wang ^*+3 , Vito Chen ^# , Jun-Pin Zhang^#和 Yo - Sheng Lin ^&4

*臺(tái)灣東方科技大學(xué)，

¹ dcchang@mail.oit.edu.tw

#臺(tái)灣樂(lè)榮工業(yè)有限公司

² barry.liang@lorom.com

⁺臺(tái)灣元澤大學(xué)通訊工程系

³ s1024838@mail.yzu.edu.tw

&臺(tái)灣國(guó)立暨南大學(xué)電機(jī)工程系

⁴ stephenlin@ncnu.edu.tw

摘要：由高頻3-D EM模擬器和RF/MMW電路模擬器模擬傳輸線中周期性結(jié)構(gòu)引起的周期性阻抗。從模擬數(shù)據(jù)中可以看出插入損耗的下降趨勢(shì)，也稱為高速原電纜的吸出（Suck-out）效應(yīng)。為了描述插入損耗的下降趨勢(shì)、吸出效應(yīng)，提出了一種簡(jiǎn)化的N段LC集總電路模型，其中包含解釋傳輸線周期性結(jié)構(gòu)的周期性電路元件。在節(jié)數(shù)適當(dāng)?shù)那闆r下，在準(zhǔn)靜態(tài)條件下，集總電路模型由于其周期性結(jié)構(gòu)，在高達(dá)幾十GHz的頻率范圍內(nèi)也能產(chǎn)生吸出效應(yīng)。