繞包線在信號完整性測試中，其衰減曲線在某一頻率下出現(xiàn)極值點(英文稱Swck out)，這是什么因素導致的？

游客:

suck

這個suck out的影響因素是什么？有這方面的研究報道嗎？

高速傳輸線中周期性缺陷結構引起的高跌落插入損耗

High Dip Insertion Loss Due to Periodic Defect Structure in High Speed Transmission Line

Dau-Cyrh Chang ^*#1 , Hsiao-Bin Liang ^#2 , Jian-Ren Wang ^*+3 , Vito Chen ^# , Jun-Pin Zhang^#和 Yo - Sheng Lin ^&4

*臺灣東方科技大學，

¹ dcchang@mail.oit.edu.tw

#臺灣樂榮工業(yè)有限公司

² barry.liang@lorom.com

⁺臺灣元澤大學通訊工程系

³ s1024838@mail.yzu.edu.tw

&臺灣國立暨南大學電機工程系

⁴ stephenlin@ncnu.edu.tw

摘要：由高頻3-D EM模擬器和RF/MMW電路模擬器模擬傳輸線中周期性結構引起的周期性阻抗。從模擬數(shù)據(jù)中可以看出插入損耗的下降趨勢，也稱為高速原電纜的吸出（Suck-out）效應。為了描述插入損耗的下降趨勢、吸出效應，提出了一種簡化的N段LC集總電路模型，其中包含解釋傳輸線周期性結構的周期性電路元件。在節(jié)數(shù)適當?shù)那闆r下，在準靜態(tài)條件下，集總電路模型由于其周期性結構，在高達幾十GHz的頻率范圍內也能產生吸出效應。