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USB3.1 IMR和IRL 不良，如何改善？求教大神 - 無圖版
lanbing --- 2022-03-04 20:42:41
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各位大神，新手上路，在做32AWG USB3.1 Type-C時，高頻參數(shù)測試IMR(綜合反射)與IRL(積分回損)不良，從線材上該如何改善，請各位大神指點
一二，謝謝！
lgf2005 --- 2022-03-06 11:42:33
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要看每一對的數(shù)據(jù)吧，IMR 和IRL是多對數(shù)據(jù)綜合計算的，估計有不穩(wěn)定吧。
mingxiao --- 2022-03-14 13:56:07
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IMR 都NG 衰減應(yīng)該很差，衰減弄直IMR就OK了，IRL也會好一些
carey210 --- 2022-03-21 08:58:35
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這個原因比較多，有可能導(dǎo)體，也有可能是發(fā)泡度，也有可能是對絞，所以你得從工藝查找。
XUZUOMAN --- 2022-03-28 08:18:51
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可能是發(fā)泡度
jemeszhao --- 2022-04-25 15:40:46
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信號對的衰減要做成一條直線，不能有尖峰
bogeman --- 2022-05-23 10:27:51
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衰減主要分為兩種，導(dǎo)體衰減跟介質(zhì)衰減，低頻一般跟導(dǎo)體有關(guān)，高頻主要是介質(zhì)，發(fā)泡度是影響衰減的主要指標，發(fā)泡介質(zhì)也有影響，高密度PE高頻衰減較好，可以適當提升高密度占比，其次不能忽略的是產(chǎn)品結(jié)構(gòu)，如果外徑、導(dǎo)體尺寸有變化會直接影響阻抗，間接影響衰減。測試溫度也是影響衰減的主要指標，很多線纜未完全冷卻前衰減是偏高的，跟環(huán)境溫度不符，可以先放置一夜，或者提高一下測試溫度。衰減跟回波不是一碼事，雖然回波對衰減會造成一定影響，但多數(shù)時候可以忽略�；夭ǚ逯岛苡幸馑�，記住計算的缺陷長度是準的，但是造成這個缺陷的原因不是那么容易分析的，不要被公式困住，實際問題實際分析。
匿名 --- 2023-03-28 10:25:25
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870122746 --- 2024-05-18 17:38:23
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