電線電纜網(wǎng) > 數(shù)據(jù) 高頻線纜 > 安倢倫N5230A 如何調(diào)試測(cè)試網(wǎng)線輸入阻抗步驟！急（完整版）
安倢倫N5230A 如何調(diào)試測(cè)試網(wǎng)線輸入阻抗步驟！急 - 無(wú)圖版
guangxi --- 2013-12-19 08:55:22
1
各位大蝦，
誰(shuí)知道安倢倫N5230A 如何調(diào)試測(cè)試網(wǎng)線輸入阻抗步驟，求教，多謝大蝦們了
chicheng --- 2013-12-20 10:37:44
2
LAN CABLE自動(dòng)量測(cè)方法
一. 標(biāo)準(zhǔn)步驟:
點(diǎn)選Hd2000開(kāi)始
登錄使用者
檢查系統(tǒng)資訊
選擇適當(dāng)?shù)拇郎y(cè)物型號(hào). 網(wǎng)絡(luò)分析儀的一般設(shè)定
起始頻率: 500KHz
終止頻率: Cat 5/5e到100MHz, Cat 6到250MHz, Cat 7至750 MHz.
輸出功率: 初始值為15DBM.
中周濾波頻寬: 300Hz
掃頻模式: 當(dāng)設(shè)定好掃頻的起始頻率與終止頻率后, 網(wǎng)絡(luò)分析儀使會(huì)依照此區(qū)間信掃頻的點(diǎn)數(shù)來(lái)決定每個(gè)掃描點(diǎn)的頻率, 其分布可為線性的或?qū)?shù)的.線性分布為: F(I)=終止頻率- 起始頻率/(掃頻點(diǎn)數(shù) – 1)+起始頻率. 對(duì)數(shù)分布為: F(I)
掃頻點(diǎn)數(shù): 401點(diǎn)
校正標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載: 100Ω
衰減平滑線: 需要時(shí)啟動(dòng).
(5). LCR的一般設(shè)定
信號(hào)輸出: 1V
信號(hào)頻率: 1KHz
信號(hào)偏壓: 0V
平 均: 1
積分時(shí)間: Long
等效模式: Parallel
校正
電容校正
反射校正
傳輸校正
近端串音校正
遠(yuǎn)端串音校正
開(kāi)始量測(cè)
(1). 輸入一般資訊
(2). 檢查或選擇適用規(guī)格
(3). 選擇量測(cè)參數(shù)
a. Cat 5測(cè)試項(xiàng)目:
b. Cat 5e測(cè)試項(xiàng)目:
c. Cat 6測(cè)試項(xiàng)目:
(4). 選擇量測(cè)對(duì)數(shù): 可測(cè)試4對(duì), 接線順序?yàn)樗{(lán), 橙, 綠, 棕.
(5). 點(diǎn)選開(kāi)始量測(cè): 即可測(cè)得結(jié)果. 如果量測(cè)過(guò)程中需中止的話(huà), 可按取消鍵.
檢視或列印結(jié)果: 如在一般資訊中沒(méi)有設(shè)定測(cè)后即印, 可點(diǎn)選顯示結(jié)果, 從報(bào)表中也可列印. 並可根據(jù)需要選擇列印整份報(bào)告, 或只列印所需要的單頁(yè).
結(jié)束: 量測(cè)結(jié)束后退出系統(tǒng)即可.
二. 量測(cè)項(xiàng)目簡(jiǎn)介:
1. 反射損失 (RL, Return Loss): 是以分貝的型式來(lái)表示反射系數(shù), 反射損失是指入射功率和反射功率的比值.
2. 特性阻抗 (Characteristic Impedance): 傳輸線受導(dǎo)體的結(jié)構(gòu)影響, 而有一高頻信號(hào)的阻值.
3. 衰減 (Attenuation): 指輸出端功率 (Pout)比入射功率(Pin), 降低了多少. 並以DB的型式表示.
延遲 (Delay): 指因定頻率下訊號(hào)波經(jīng)過(guò)因定長(zhǎng)度同軸線所需之時(shí)間.
延遲差 (Skew): D+, D-端不同的訊號(hào)到達(dá)接收端的時(shí)間差.
串音 (Cross Talk): 兩線路之間互相干擾的電磁雜訊, 隨著頻率之升高而增加, 分為近端串音和遠(yuǎn)端串音.
chicheng --- 2013-12-20 10:38:08
3
USB CABLE手動(dòng)測(cè)試方法
一 NA衰減量測(cè):
1. 網(wǎng)路分析儀初始設(shè)定: 按PRESET鍵
2. 設(shè)起始頻率: 64Hz
3. 設(shè)終止頻率: 400MHz
4. 設(shè)掃頻點(diǎn)數(shù): 401
5. 設(shè)掃頻模式: Log Freq
6. 設(shè)測(cè)試模式: Trans: FWD S21 (B/R)
7. 設(shè)中周濾波頻寬: IF-BW 300
8. 進(jìn)行校正: Thru校正
9. 設(shè)定標(biāo)記值: Marker 1 MHz
10. 開(kāi)始量測(cè): 校正后將校正治具移除, 接上待測(cè)線及治具便可測(cè)得衰減值.
二 TDR Differential阻抗量測(cè):
(一) 基本設(shè)定:
2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential 或 Common mode
3. 設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù):
設(shè)定TDR波形連成一線
設(shè)定Time base Position x ns及Time base Scale2 ns/div
(二) TDR校正:
1. 連接同軸線:將兩條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR54754A模組的兩個(gè)channel上.
2. 進(jìn)行校正:
3. 打開(kāi)differential的訊號(hào):
4. 設(shè)定Response 3的Scale: Y offset 550mv
5. 設(shè)定標(biāo)記在2ns和5ns兩點(diǎn)
6. 關(guān)閉不用的channel.
7. 檢查校正值是否正確: 將Ch1/3及Ch2/4接上55Ω Load kit, 此時(shí)螢?zāi)挥蚁路奖銜?huì)出現(xiàn)2ns和5ns兩點(diǎn)的Differential阻抗值, 應(yīng)趨近100Ω. Common mode阻抗值, 應(yīng)趨近25Ω.
三. Delay的量測(cè)(使用TDT量測(cè))
2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential
設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù): 2048pts
設(shè)定TDR波形連成一線:
設(shè)定Time base Position x ns及Time base Scale 2 ns/div:
將所有的Channel關(guān)閉:
將Response 1打開(kāi):
接上校正治具: 將四條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR 54754A模組的四個(gè)channel上. 連線時(shí)注意1和3, 2和4要相對(duì).
儲(chǔ)存Response 1的圖形: 將校正治具移除, 接上測(cè)試治具和測(cè)試線即可量測(cè)
設(shè)定參數(shù): 設(shè)定完成后螢?zāi)挥蚁路奖銜?huì)出現(xiàn)Delay值.
四. Skew的量測(cè):
2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential
3. 設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù): 2048pts Done
4. 設(shè)定TDR波形連成一線:
5. 設(shè)定Time base Position及Time base Scale
6. 接上校正治具: 將四條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR 54754A模組的四個(gè)channel上. 連線時(shí)注意1和3, 2和4要相對(duì).
7. 設(shè)定HPTDR在量測(cè)Channel 1(黃)及Channel 2(綠)TDT波形時(shí)間差:
8. 開(kāi)始量測(cè): 接上治具及待測(cè)線, 調(diào)整波形即可. (波形愈靠左愈好)
chicheng --- 2013-12-20 10:38:39
4
1394 CABLE手動(dòng)測(cè)試方法
一 NA衰減&延遲之量測(cè):
1. 網(wǎng)路分析儀初始設(shè)定: 按PRESET鍵
2. 設(shè)起始頻率: 1M
3. 設(shè)終止頻率: 500M
4. 設(shè)掃頻點(diǎn)數(shù): 401
5. 設(shè)掃頻模式: Log Freq
6. 設(shè)輸出信號(hào)強(qiáng)度為6dB
7. 設(shè)測(cè)試模式: Trans: FWD S21 (B/R)
8. 設(shè)定顯示模式: DUAL Chan
9. 設(shè)定格式:
10. 設(shè)中周濾波頻寬:
11. 設(shè)定平滑度為1%
12. 將平滑度設(shè)定為開(kāi)始:
13. 設(shè)定Channel 1參考值:
14.設(shè)定Channel 2參考值:
設(shè)定游標(biāo):
注: 因1394衰減量測(cè)100, 200, 400MHz三點(diǎn), 延遲量測(cè)50, 100, 200MHz三點(diǎn), 所以直接設(shè)此4點(diǎn)即可.
16. 進(jìn)行校正: Thru
17. 開(kāi)始量測(cè): 校正后將校正治具移除, 分別接上治具及待測(cè)線便可測(cè)得各對(duì)衰減值.
二 TDR Differential阻抗量測(cè):
(一) 基本設(shè)定:
2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential
面板時(shí)域設(shè)定: Scale 5 Position 48
(二) TDR校正:
1. 連接同軸線:將兩條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR54754A模組的兩個(gè)channel上.
2. 進(jìn)行校正:
3. 設(shè)定軌跡:
4. 關(guān)閉不用的channel.
5. 檢查校正值是否正確: 將Ch1/3及Ch2/4接上50Ω Load kit, 此時(shí)螢?zāi)挥蚁路奖銜?huì)出現(xiàn)2ns和5ns兩點(diǎn)的Differential阻抗值, 應(yīng)趨近100Ω.
(三) 進(jìn)行量測(cè): TDR量測(cè)阻抗時(shí)可選兩點(diǎn)的mark值, 取最大值及最小值.
設(shè)定完后在螢?zāi)挥蚁路綍?huì)出現(xiàn)最大及最小的differential阻抗值.
chicheng --- 2013-12-20 10:38:58
5
一 NA衰減量測(cè):
1. 網(wǎng)路分析儀初始設(shè)定: 按PRESET鍵
2. 設(shè)起始頻率: 1 M
3. 設(shè)終止頻率: 1.65G
4. 設(shè)掃頻點(diǎn)數(shù): 401
5. 設(shè)掃頻模式: Log Freq
6. 設(shè)測(cè)試模式: Trans: FWD S21 (B/R)
7. 設(shè)中周濾波頻寬: IF-BW 300
8. 進(jìn)行校正: Thru
9. 設(shè)定標(biāo)記值: Marker 1 M
10. 開(kāi)始量測(cè): 校正后將校正治具移除, 接上待測(cè)線及治具便可測(cè)得衰 減值.
三 Delay和Inter-Pair Skew的量測(cè):
1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT Local Storage setup Default setup
2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential
設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù): 2048pts
設(shè)定TDR波形連成一線:
設(shè)定Time base Position及Time base Scale:
SETUP Scale x ns/div Position 52 ns
X=1.2ns/div/m
6. 關(guān)閉不用的channel.
7. 打開(kāi)Response的訊號(hào):
1. 調(diào)整Y的Scale使波形往下移并置中
2. 儲(chǔ)存Response 3的圖形
3. 開(kāi)始量測(cè): 接上待測(cè)線
圖的下方會(huì)出現(xiàn)一數(shù)值, 即為T(mén)DR模式的Delay值. 接著量測(cè)其他的線對(duì), 得出所有的Delay值, 其中最快的和最慢的Delay的差, 就是這條線的Inter-pair skew.
四 Rise time的量測(cè)
1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT Local Storage setup Default setup
2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential
3. 設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù): 2048pts
4. 設(shè)定TDR波形連成一線:
5. 設(shè)定Time base Position及Time base Scale:
SETUP Scale x ns/div Position 52 ns
X=1.2ns/div/m
6. 關(guān)閉TDR和TDT所有不用的channel.
7. 將Response 1打開(kāi):
8. 將圖形移到螢?zāi)恢虚g便于讀取數(shù)值:
Setup Time base Position xxx Scale xxx
Setup Time base 7 function 1 Enter
完成后應(yīng)可看到Rise time為35±2, 如沒(méi)有, 可重復(fù)7的步驟.
注意: 量測(cè)時(shí)必須要使1和3相對(duì), 2和4相對(duì).
9. 接上校正治具, 調(diào)整Time base至可以看到上升段為止, 可得一數(shù)值X.
10. 開(kāi)始量測(cè). 把校正治具移除, 接上量測(cè)治具和待測(cè)線即可.
把得到的數(shù)值Y帶入公式√Y2-X2即求出DVI的Rise time值.
chicheng --- 2013-12-20 10:40:04
6
一. 同軸線組裝頭的制作:
1. 組裝頭的種類(lèi): N-type, BNC, SMA. 標(biāo)準(zhǔn)的SMA連接器高頻特性范圍可以到18GHz, 標(biāo)準(zhǔn)的N-type可以到11GHz, 而標(biāo)準(zhǔn)BNC則可到8GHZ.
2. 接連 (attachment) 製作的方法: 裸線組裝頭的製作好壞, 是影響同軸線高頻量測(cè)品質(zhì)的主因. 常用下列三種方法:
(1). 焊錫(Soldering)
(2). 鉚合(Crimping) 最常用
(3). 鉗制(Clamping)
二. 網(wǎng)絡(luò)分析儀的反射量測(cè): (以75Ω同軸線為例)
1. 反射量測(cè)的基本設(shè)定:
(1). 設(shè)定網(wǎng)絡(luò)分析儀執(zhí)行反射量測(cè): FWD S11(A/R)
(2). 設(shè)中周濾波頻寬: IF BW 300
(3). 設(shè)取樣點(diǎn)數(shù): 401
(4). 設(shè)取樣的掃瞄方式: Log freq
(5). 設(shè)起始頻率: 300 KHz
(6). 設(shè)終止頻率: 1.0 GHz
反射類(lèi)的參數(shù)主要包括: 特性阻抗(Impedance), 反射損失(Return Loss), 駐波比(SWR). 量測(cè)時(shí), 根據(jù)各量測(cè)參數(shù)的不同而有不同的設(shè)定, 具體如下:
A. 特性阻抗的設(shè)定:
MEAS Conversion [Off] Z: Refl Return
CAL More Set Z0 75 x1
FORMAT LIN MAG
Scale Ref Reference Value 75 x1
Reference Position 5 x1 Scale/div 1 x1
注意: 量測(cè)其他參數(shù)時(shí), 要將量測(cè)的格式參考設(shè)定, 由線性特性阻抗轉(zhuǎn)成其它的對(duì)數(shù)格式.
B. 反射損失的設(shè)定:
FORMAT LOG MAG
SCALE REF Reference Value 0 x1
Reference Position 10 x1
Scale/div 10 x1
C. 駐波比的設(shè)定:
FORMAT SWR
Scale Ref Reference Value 1 x1
Reference Position 5 x1
Scale/div 0.1 x1
2. 網(wǎng)絡(luò)分析儀的校正: Open校正 Short校正 Load校正
3. 反射參數(shù)量測(cè):
(1). 量測(cè)指標(biāo)的設(shè)定: 1MHz, 100MHz, 1GHz, and 2.3GHz
(2). 量測(cè)標(biāo)題的設(shè)定: 量測(cè)標(biāo)題的設(shè)定, 是在列印量測(cè)報(bào)表之前, 把本次量測(cè)待測(cè)線加上編號(hào)或量測(cè)條件, 例如溫度, 長(zhǎng)度, 材質(zhì)等. 操作如下:
DISPLAY MORE TITLE
此時(shí)螢?zāi)簧蠒?huì)出現(xiàn)26個(gè)英文字母, 0-9阿拉伯?dāng)?shù)字及一些標(biāo)點(diǎn)符號(hào)等. 使用面板的旋鈕加以選擇所需的文字.
(3) 列印:
一張A4紙印一張圖:
一張A4紙印二張圖:
三. 網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸量測(cè):
1. 基本設(shè)定:
(1). 設(shè)定網(wǎng)絡(luò)分析儀執(zhí)行傳輸量測(cè): Trans: FWD S21 (B/R)
(2). 設(shè)中周濾波頻寬: IF BW 300
(3). 設(shè)取樣點(diǎn): 401
(4). 設(shè)取樣的掃瞄方式: Log freq
(5). 設(shè)起始頻率: 300 k/m
(6). 設(shè)終止頻率: 1.0 G/n
反射類(lèi)的參數(shù)主要包括: 衰減(Insertion Loss), 傳播延遲(Propagation Delay). 量測(cè)時(shí)根據(jù)不同的參數(shù)需不同的設(shè)定. 設(shè)定如下:
A. 衰減的設(shè)定:
FORMAT LOG MAG
SCALE REF REFERENCE VALUE 0 x1
REFERENCE POSITION 10 x1
SCALE/DIV 1 x1
B. 延遲的設(shè)定:
FORMAT LOG MAG
Scale ref Reference value 4.8 G/n
Reference position 0 x1
Scale/div 5.1 x1
chicheng --- 2013-12-20 10:40:28
7
3. 量測(cè):
(1). 量測(cè)指標(biāo)的設(shè)定: 1MHz, 100MHz, 1GHz, and 2.3GHz
(2). 量測(cè)標(biāo)題的設(shè)定:
(3) 列印:
(4) 平滑曲線功能: HP網(wǎng)絡(luò)分析儀可以移去其頻率孔徑之間的量測(cè)曲線因其它因素造成的變異, 讓量測(cè)曲線變平滑, 此孔徑的大小, 是由量測(cè)頻寬的百分比來(lái)決定. 其值越大, 量測(cè)曲線越平滑. 但此項(xiàng)功能需經(jīng)委測(cè)及檢測(cè)雙方達(dá)成協(xié)議或規(guī)范允許下使用. 設(shè)定5%為例:
AVG Smoothing off Smoothing on Smoothing Aperture 5
此時(shí)網(wǎng)絡(luò)分析儀螢?zāi)蛔蠓斤@示有SMO的標(biāo)示.
yemingjun --- 2013-12-24 15:29:14
8
chicheng --- 2013-12-24 18:13:21
9
yemingjun:
樓上方法還是很正確的
這是從惠盈之前的資料上復(fù)制過(guò)來(lái)的，肯定是正確的。
xufeng --- 2014-02-10 10:27:27
10
都啥年代了！那些都是已經(jīng)淘汰的設(shè)備了。N5230 算還沒(méi)有淘汰的，我倒是可以教你一下。