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各位大蝦，

      誰知道安倢倫N5230A 如何調(diào)試測(cè)試網(wǎng)線輸入阻抗步驟，求教，多謝大蝦們了

LAN CABLE自動(dòng)量測(cè)方法

一. 標(biāo)準(zhǔn)步驟:

              點(diǎn)選Hd2000開始

              登錄使用者

              檢查系統(tǒng)資訊

              選擇適當(dāng)?shù)拇郎y(cè)物型號(hào).  網(wǎng)絡(luò)分析儀的一般設(shè)定

              起始頻率: 500KHz

              終止頻率: Cat 5/5e到100MHz, Cat 6到250MHz, Cat 7至750       MHz.

              輸出功率: 初始值為15DBM.

              中周濾波頻寬: 300Hz

              掃頻模式: 當(dāng)設(shè)定好掃頻的起始頻率與終止頻率后, 網(wǎng)絡(luò)分析儀使會(huì)依照此區(qū)間信掃頻的點(diǎn)數(shù)來決定每個(gè)掃描點(diǎn)的頻率, 其分布可為線性的或?qū)��?shù)的.線性分布為: F(I)=終止頻率- 起始頻率/(掃頻點(diǎn)數(shù) – 1)+起始頻率. 對(duì)數(shù)分布為: F(I)

              掃頻點(diǎn)數(shù): 401點(diǎn)

              校正標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載: 100Ω

              衰減平滑線: 需要時(shí)啟動(dòng).

       (5). LCR的一般設(shè)定

              信號(hào)輸出: 1V

              信號(hào)頻率: 1KHz

              信號(hào)偏壓: 0V

              平    均: 1

              積分時(shí)間: Long

              等效模式: Parallel

              校正

              電容校正

              反射校正

              傳輸校正

              近端串音校正

              遠(yuǎn)端串音校正

              開始量測(cè)

(1). 輸入一般資訊

(2). 檢查或選擇適用規(guī)格

(3). 選擇量測(cè)參數(shù)

a.       Cat 5測(cè)試項(xiàng)目: 5/6/7/8/9/11/12/14

b.      Cat 5e測(cè)試項(xiàng)目: 4/5/6/7/8/9/11/13/14/17/18

c.       Cat 6測(cè)試項(xiàng)目: 4/5/6/7/8/9/10/11/13/14/17/18/19/20

(4). 選擇量測(cè)對(duì)數(shù): 可測(cè)試4對(duì), 接線順序?yàn)樗{(lán), 橙, 綠, 棕.

(5). 點(diǎn)選開始量測(cè): 即可測(cè)得結(jié)果. 如果量測(cè)過程中需中止的話, 可按取消鍵.

              檢視或列印結(jié)果: 如在一般資訊中沒有設(shè)定測(cè)后即印, 可點(diǎn)選顯示結(jié)果, 從報(bào)表中也可列印. 並可根據(jù)需要選擇列印整份報(bào)告, 或只列印所需要的單頁.

              結(jié)束: 量測(cè)結(jié)束后退出系統(tǒng)即可.

二. 量測(cè)項(xiàng)目簡(jiǎn)介:

1. 反射損失 (RL, Return Loss): 是以分貝的型式來表示反射系數(shù), 反射損失是指入射功率和反射功率的比值.

2. 特性阻抗 (Characteristic Impedance): 傳輸線受導(dǎo)體的結(jié)構(gòu)影響, 而有一高頻信號(hào)的阻值.

3. 衰減 (Attenuation): 指輸出端功率 (Pout)比入射功率(Pin), 降低了多少. 並以DB的型式表示.

              延遲 (Delay): 指因定頻率下訊號(hào)波經(jīng)過因定長(zhǎng)度同軸線所需之時(shí)間.

              延遲差 (Skew): D+, D-端不同的訊號(hào)到達(dá)接收端的時(shí)間差.

              串音 (Cross Talk): 兩線路之間互相干擾的電磁雜訊, 隨著頻率之升高而增加, 分為近端串音和遠(yuǎn)端串音.

USB CABLE手動(dòng)測(cè)試方法

一 NA衰減量測(cè):

1.      網(wǎng)路分析儀初始設(shè)定:  按PRESET鍵

2.      設(shè)起始頻率: 64Hz

3.      設(shè)終止頻率: 400MHz

4.      設(shè)掃頻點(diǎn)數(shù): 401

5.      設(shè)掃頻模式: Log Freq

6.      設(shè)測(cè)試模式: Trans: FWD S21 (B/R)

7.      設(shè)中周濾波頻寬: IF-BW  300

8.      進(jìn)行校正:  Thru校正

9.      設(shè)定標(biāo)記值: Marker  1 MHz

10.  開始量測(cè): 校正后將校正治具移除, 接上待測(cè)線及治具便可測(cè)得衰減值.

二 TDR Differential阻抗量測(cè):

(一) 基本設(shè)定:

1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT     Local     STORAGE setup    Default setup

     2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential 或 Common mode

3. 設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù): 2048pts  

              設(shè)定TDR波形連成一線

              設(shè)定Time base Position x ns及Time base Scale2 ns/div 

(二) TDR校正:

1.      連接同軸線:將兩條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR54754A模組的兩個(gè)channel上.

2.      進(jìn)行校正:

3.      打開differential的訊號(hào):

4.      設(shè)定Response 3的Scale:  Y offset 550mv

5.      設(shè)定標(biāo)記在2ns和5ns兩點(diǎn)

6.      關(guān)閉不用的channel.

7.      檢查校正值是否正確: 將Ch1/3及Ch2/4接上55Ω Load kit, 此時(shí)螢?zāi)挥蚁路奖銜?huì)出現(xiàn)2ns和5ns兩點(diǎn)的Differential阻抗值, 應(yīng)趨近100Ω.  Common mode阻抗值, 應(yīng)趨近25Ω.      

三. Delay的量測(cè)(使用TDT量測(cè))

1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT     Local     STORAGE setup     Default setup

    2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential

              設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù):  2048pts  

              設(shè)定TDR波形連成一線:

              設(shè)定Time base Position  x ns及Time base Scale  2 ns/div:     

              將所有的Channel關(guān)閉:

              將Response 1打開:

              接上校正治具: 將四條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR 54754A模組的四個(gè)channel上.  連線時(shí)注意1和3, 2和4要相對(duì).

              儲(chǔ)存Response 1的圖形: 將校正治具移除, 接上測(cè)試治具和測(cè)試線即可量測(cè)

              設(shè)定參數(shù):    設(shè)定完成后螢?zāi)挥蚁路奖銜?huì)出現(xiàn)Delay值.

四. Skew的量測(cè):

1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT     Local     STORAGE setup     Default setup

    2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential

3.      設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù):  2048pts      Done

4.      設(shè)定TDR波形連成一線:

5.      設(shè)定Time base Position及Time base Scale

6.      接上校正治具: 將四條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR 54754A模組的四個(gè)channel上.  連線時(shí)注意1和3, 2和4要相對(duì).

7.      設(shè)定HPTDR在量測(cè)Channel 1(黃)及Channel 2(綠)TDT波形時(shí)間差:

      △Time      start src channel 1      Enter

stop stc channel 2      Enter       Enter

8.      開始量測(cè): 接上治具及待測(cè)線, 調(diào)整波形即可. (波形愈靠左愈好)

1394 CABLE手動(dòng)測(cè)試方法

一 NA衰減&延遲之量測(cè):

1.      網(wǎng)路分析儀初始設(shè)定:  按PRESET鍵

2.      設(shè)起始頻率:  1M

3.      設(shè)終止頻率:  500M

4.      設(shè)掃頻點(diǎn)數(shù):  401

5.      設(shè)掃頻模式:  Log Freq

6.      設(shè)輸出信號(hào)強(qiáng)度為6dB

7.      設(shè)測(cè)試模式:  Trans: FWD S21 (B/R)

8.      設(shè)定顯示模式: DUAL Chan

9.      設(shè)定格式:

      CHAN 1     RESPONSE FORMAT     Log Mag  (衰減格式)

      CHAN 2     RESPONSE FORMAT     Delay    (延遲格式)

10.  設(shè)中周濾波頻寬:

CHAN 1      AVG       IF-BW  300

CHAN 2      AVG      IF-BW    300

11.  設(shè)定平滑度為1%

12.  將平滑度設(shè)定為開始:

13.  設(shè)定Channel 1參考值:

CHAN 1      Response Scale ref      Reference Value      0 x1

Reference Position       10

Scale/div       0.5

14.設(shè)定Channel 2參考值:

CHAN 2      Response Scale ref      Reference Value      20ns

Reference Position       5

Scale/div       10

              設(shè)定游標(biāo):

Response      1      50 M

              2      100M

              3      200M

              4      400M

注: 因1394衰減量測(cè)100, 200, 400MHz三點(diǎn), 延遲量測(cè)50, 100, 200MHz三點(diǎn), 所以直接設(shè)此4點(diǎn)即可.

16. 進(jìn)行校正: Thru

17. 開始量測(cè): 校正后將校正治具移除, 分別接上治具及待測(cè)線便可測(cè)得各對(duì)衰減值.

二 TDR Differential阻抗量測(cè):

(一) 基本設(shè)定:

1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT     Local     STORAGE setup     Default setup

    2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential

              面板時(shí)域設(shè)定: Scale 5   Position 48

(二) TDR校正:

1.      連接同軸線:將兩條1m長(zhǎng)的同軸線分別連到TDR54754A模組的兩個(gè)channel上.

2.      進(jìn)行校正:

3.      設(shè)定軌跡:

       TDR/TDT Setup      TDR Response 3      differential      Enter

4.      關(guān)閉不用的channel.

5.      檢查校正值是否正確: 將Ch1/3及Ch2/4接上50Ω Load kit, 此時(shí)螢?zāi)挥蚁路奖銜?huì)出現(xiàn)2ns和5ns兩點(diǎn)的Differential阻抗值, 應(yīng)趨近100Ω.

(三) 進(jìn)行量測(cè): TDR量測(cè)阻抗時(shí)可選兩點(diǎn)的mark值, 取最大值及最小值. 

    Setup marker      +Position 2 ns       可使用Knob轉(zhuǎn)輪尋找最大值

                     X Position 5 ns      可使用Knob轉(zhuǎn)輪尋找最小值

      設(shè)定完后在螢?zāi)挥蚁路綍?huì)出現(xiàn)最大及最小的differential阻抗值.

一 NA衰減量測(cè):

1.      網(wǎng)路分析儀初始設(shè)定:  按PRESET鍵

2.      設(shè)起始頻率:  1 M

3.      設(shè)終止頻率:  1.65G

4.      設(shè)掃頻點(diǎn)數(shù):  401

5.      設(shè)掃頻模式:  Log Freq

6.      設(shè)測(cè)試模式:  Trans: FWD S21 (B/R)

7.      設(shè)中周濾波頻寬: IF-BW  300

8.      進(jìn)行校正:    Thru

9.      設(shè)定標(biāo)記值:  Marker   1  M

10.  開始量測(cè): 校正后將校正治具移除, 接上待測(cè)線及治具便可測(cè)得衰  減值.   

三 Delay和Inter-Pair Skew的量測(cè):

1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT     Local     Storage setup     Default setup

   2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential

              設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù):  2048pts  

              設(shè)定TDR波形連成一線:

              設(shè)定Time base Position及Time base Scale:

     SETUP      Scale      x ns/div     Position      52 ns

   X=1.2ns/div/m

6. 關(guān)閉不用的channel.

7. 打開Response的訊號(hào):

1.      調(diào)整Y的Scale使波形往下移并置中

2.      儲(chǔ)存Response 3的圖形

3.      開始量測(cè): 接上待測(cè)線

            圖的下方會(huì)出現(xiàn)一數(shù)值, 即為TDR模式的Delay值. 接著量測(cè)其他的線對(duì), 得出所有的Delay值, 其中最快的和最慢的Delay的差, 就是這條線的Inter-pair skew.

四 Rise time的量測(cè)

1. 時(shí)域反射儀初始設(shè)定: SHIFT     Local      Storage setup      Default setup

   2. 設(shè)定量測(cè)模式為Differential

3.      設(shè)定取樣點(diǎn)數(shù):  2048pts 

4.      設(shè)定TDR波形連成一線:

5.      設(shè)定Time base Position及Time base Scale:

     SETUP          Scale      x ns/div        Position         52 ns

  X=1.2ns/div/m

6.      關(guān)閉TDR和TDT所有不用的channel.

7.      將Response 1打開:

8.      將圖形移到螢?zāi)恢虚g便于讀取數(shù)值:

Setup Time base       Position xxx      Scale xxx

Setup Time base       7      function 1      Enter

        完成后應(yīng)可看到Rise time為35±2, 如沒有, 可重復(fù)7的步驟.

      注意: 量測(cè)時(shí)必須要使1和3相對(duì), 2和4相對(duì).

9.      接上校正治具, 調(diào)整Time base至可以看到上升段為止, 可得一數(shù)值X.

10.  開始量測(cè). 把校正治具移除, 接上量測(cè)治具和待測(cè)線即可.

    把得到的數(shù)值Y帶入公式√Y2-X2即求出DVI的Rise time值.

一. 同軸線組裝頭的制作:

1. 組裝頭的種類: N-type, BNC, SMA. 標(biāo)準(zhǔn)的SMA連接器高頻特性范圍可以到18GHz, 標(biāo)準(zhǔn)的N-type可以到11GHz, 而標(biāo)準(zhǔn)BNC則可到8GHZ.

2. 接連 (attachment) 製作的方法: 裸線組裝頭的製作好壞, 是影響同軸線高頻量測(cè)品質(zhì)的主因. 常用下列三種方法:

   (1). 焊錫(Soldering)

   (2). 鉚合(Crimping)   最常用

   (3). 鉗制(Clamping)

二. 網(wǎng)絡(luò)分析儀的反射量測(cè): (以75Ω同軸線為例)

   1. 反射量測(cè)的基本設(shè)定:

     (1). 設(shè)定網(wǎng)絡(luò)分析儀執(zhí)行反射量測(cè):  FWD S11(A/R)

     (2). 設(shè)中周濾波頻寬:  IF BW 300

     (3). 設(shè)取樣點(diǎn)數(shù):      401

     (4). 設(shè)取樣的掃瞄方式: Log freq

     (5). 設(shè)起始頻率:      300  KHz

     (6). 設(shè)終止頻率:      1.0   GHz

            反射類的參數(shù)主要包括: 特性阻抗(Impedance), 反射損失(Return Loss), 駐波比(SWR). 量測(cè)時(shí), 根據(jù)各量測(cè)參數(shù)的不同而有不同的設(shè)定, 具體如下:

      A. 特性阻抗的設(shè)定:

         MEAS         Conversion [Off]          Z: Refl          Return

         CAL           More          Set Z0         75         x1

         FORMAT        LIN MAG

         Scale Ref          Reference Value             75         x1

                           Reference Position           5          x1                            Scale/div                   1          x1

      注意: 量測(cè)其他參數(shù)時(shí), 要將量測(cè)的格式參考設(shè)定, 由線性特性阻抗轉(zhuǎn)成其它的對(duì)數(shù)格式.

      B. 反射損失的設(shè)定:

         FORMAT           LOG MAG

         SCALE REF         Reference Value         0         x1

                            Reference Position       10        x1

                            Scale/div               10        x1

      C. 駐波比的設(shè)定:

         FORMAT        SWR

         Scale Ref        Reference Value           1         x1

                         Reference Position         5         x1

                         Scale/div                0.1        x1

   2. 網(wǎng)絡(luò)分析儀的校正: Open校正 Short校正 Load校正

   3. 反射參數(shù)量測(cè):

      (1). 量測(cè)指標(biāo)的設(shè)定: 1MHz, 100MHz, 1GHz, and 2.3GHz

      (2). 量測(cè)標(biāo)題的設(shè)定: 量測(cè)標(biāo)題的設(shè)定, 是在列印量測(cè)報(bào)表之前, 把本次量測(cè)待測(cè)線加上編號(hào)或量測(cè)條件, 例如溫度, 長(zhǎng)度, 材質(zhì)等. 操作如下:

            DISPLAY       MORE       TITLE

             此時(shí)螢?zāi)簧蠒?huì)出現(xiàn)26個(gè)英文字母, 0-9阿拉伯?dāng)?shù)字及一些標(biāo)點(diǎn)符號(hào)等. 使用面板的旋鈕加以選擇所需的文字.

      (3) 列印:

            一張A4紙印一張圖:

            一張A4紙印二張圖:

三. 網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸量測(cè):

    1. 基本設(shè)定:

      (1). 設(shè)定網(wǎng)絡(luò)分析儀執(zhí)行傳輸量測(cè):    Trans: FWD S21 (B/R)

      (2). 設(shè)中周濾波頻寬:   IF BW   300 

      (3). 設(shè)取樣點(diǎn):         401 

      (4). 設(shè)取樣的掃瞄方式:  Log freq  

      (5). 設(shè)起始頻率:        300    k/m

      (6). 設(shè)終止頻率:        1.0    G/n

            反射類的參數(shù)主要包括: 衰減(Insertion Loss), 傳播延遲(Propagation Delay). 量測(cè)時(shí)根據(jù)不同的參數(shù)需不同的設(shè)定. 設(shè)定如下:

        A. 衰減的設(shè)定:

           FORMAT         LOG MAG

           SCALE REF      REFERENCE VALUE         0      x1

                           REFERENCE POSITION      10      x1

                           SCALE/DIV                 1      x1

        B. 延遲的設(shè)定:

           FORMAT         LOG MAG

           Scale ref          Reference value          4.8        G/n

                            Reference position        0          x1

                            Scale/div                5.1        x1

    3. 量測(cè):

       (1). 量測(cè)指標(biāo)的設(shè)定: 1MHz, 100MHz, 1GHz, and 2.3GHz

(2). 量測(cè)標(biāo)題的設(shè)定:

       (3) 列印:

       (4) 平滑曲線功能:  HP網(wǎng)絡(luò)分析儀可以移去其頻率孔徑之間的量測(cè)曲線因其它因素造成的變異, 讓量測(cè)曲線變平滑, 此孔徑的大小, 是由量測(cè)頻寬的百分比來決定. 其值越大, 量測(cè)曲線越平滑. 但此項(xiàng)功能需經(jīng)委測(cè)及檢測(cè)雙方達(dá)成協(xié)議或規(guī)范允許下使用. 設(shè)定5%為例:

           AVG     Smoothing off     Smoothing on      Smoothing Aperture     5

               此時(shí)網(wǎng)絡(luò)分析儀螢?zāi)蛔蠓斤@示有SMO的標(biāo)示.

yemingjun:
樓上方法還是很正確的

這是從惠盈之前的資料上復(fù)制過來的，肯定是正確的。

都啥年代了！那些都是已經(jīng)淘汰的設(shè)備了。N5230 算還沒有淘汰的，我倒是可以教你一下。