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呵呵,支持
腦袋瓜開竅了
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多多支持,
現(xiàn)在也在研究雙絞線的屏蔽衰減測試
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之后我將在此不定時發(fā)布一些關(guān)于編織型同軸電纜屏蔽衰減與轉(zhuǎn)移阻抗的測試情況,歡迎圍觀討論。之前測試發(fā)現(xiàn),結(jié)構(gòu)相同,編織絲不同時,屏蔽衰減差別主要在高頻差別明顯,而30MHz到100MHz差別不明顯
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有無進一步的研究成果可以分享討論啊,呵呵
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http://jqgyxcq.com.cn/ShowPost.asp?ThreadID=17120大家可以參看這個屏蔽數(shù)字電纜轉(zhuǎn)移阻抗的測試研究,這個參用三同軸法,測試跟同軸也差不多,是把帶屏蔽的數(shù)字電纜內(nèi)導體連起來作為“內(nèi)導體”屏蔽做外導體進行的測試。
另外多說一點,看過這篇文章我發(fā)現(xiàn)作者研究耦合長度與波長的比值變化與測試誤差的時候,其實用電纜的截止頻率的概念來解釋,耦合長度的變化對于測試結(jié)果的表現(xiàn)更直觀,根據(jù)IEC62153-4-7表述的式子可以看到,不管是短電纜還是長電纜(電長度)其截止頻率與耦合長度成反比例關(guān)系,即上截止頻率會隨耦合長度的增加而減小
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上海電纜研究所在測
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