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在EIA/TIA—568—B中規(guī)定光纖通信鏈路現(xiàn)場測試所需的單一性能參數(shù)為鏈路損失(衰減) - 無圖版

sanewcable --- 2011-02-15 14:11:27

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(1)光功率的測試

  對(duì)光纖工程最基本的測試是在EIA的FOTP-95標(biāo)準(zhǔn)中定義的光功率測試,它確定了通過光纖傳輸?shù)男盘?hào)的強(qiáng)度,還是損失測試的基礎(chǔ)。測試時(shí)把光功率計(jì)放在光纖的一端,把光源放在光纖的另一端。

  (2)光學(xué)連通性的測試

  光纖系統(tǒng)的光學(xué)連通性表示光纖系統(tǒng)傳輸光功率的能力。光纖系統(tǒng)的光學(xué)連通性是對(duì)光纖系統(tǒng)的基本要求,因此對(duì)光纖系統(tǒng)的光學(xué)連通性進(jìn)行測試是基本的測試之一。通過在光纖系統(tǒng)的一端連接光源,在另一端連接光功率計(jì),通過檢測到的輸出光功率可以確定光纖系統(tǒng)的光學(xué)連通性。當(dāng)輸出端測到的光功率與輸入端實(shí)際輸入的光功率的比值小于一定的數(shù)值時(shí),則認(rèn)為這條鏈路光學(xué)不連通。進(jìn)行光學(xué)連通性的測試時(shí),通常是把紅色激光或者其他可見光注入光纖,并在光纖的末端監(jiān)視光的輸出。如果在光纖中有斷裂或其他的不連續(xù)點(diǎn),在光纖輸出端的光功率就會(huì)下降或者根本沒有光輸出。

  (3)光功率損失測試

  光功率損失這一通用于光纖領(lǐng)域的術(shù)語代表了光纖鏈路的衰減。衰減是光纖鏈路的一個(gè)重要的傳輸參數(shù),它的單位是分貝(dB)。它表明了光纖鏈路對(duì)光能的傳輸損耗(傳導(dǎo)特性),其對(duì)光纖質(zhì)量的評(píng)定和確定光纖系統(tǒng)的中繼距離起到?jīng)Q定性的作用。光信號(hào)在光纖中傳播時(shí),平均光功率延光纖長度方向成指數(shù)規(guī)律減少。在一根光纖網(wǎng)線中,從發(fā)送端到接收端之間存在的衰減越大,兩者間可能傳輸?shù)淖畲缶嚯x就越短。衰減對(duì)所有種類的網(wǎng)線系統(tǒng)在傳輸速度和傳輸距離上都產(chǎn)生負(fù)面的影響,但因?yàn)楣饫w傳輸中不存在串?dāng)_、EMI、RFI等問題,所以光纖傳輸對(duì)衰減的反應(yīng)特別敏感。

  光功率損失測試實(shí)際上就是衰減的測試,它測試的是信號(hào)在通過光纖后的減弱。光纖比銅纜更能抵制衰減,但即使網(wǎng)絡(luò)沒有使用非常長的光纖傳輸,仍然存在著顯著的損失,這不是光纖本身的問題,而是安裝時(shí)所作的連接的問題。光功率損失測試驗(yàn)證了是否正確安裝了光纖和連接器。

  光功率損失測試的方法類似于光功率測試,只不過是使用一個(gè)標(biāo)有刻度的光源產(chǎn)生信號(hào),使用一個(gè)光功率計(jì)來測量實(shí)際到達(dá)光纖另一端的信號(hào)強(qiáng)度。光源和光功率計(jì)組合后稱為光損失測試器(OLTS)。

  測試過程首先應(yīng)將光源和光功率計(jì)分別連接到參照測試光纖的兩端,以參照測試光纖作為一個(gè)基準(zhǔn),對(duì)照它來度量信號(hào)在安裝的光纖路徑上的損失。在參照測試光纖上測量了光源功率之后,取下光功率計(jì),將參照測試光纖連同光源連接到要測試的光纖的另一端,而將光功率計(jì)連到另一端。測試完成后將兩個(gè)測試結(jié)果相比較,就可以計(jì)算出實(shí)際鏈路的信號(hào)損失。這種測試有效的測量了在光纖中和參照測試光纖所連接的連接器上的損失量。

  (4)光纖鏈路預(yù)算(OLB)

  光纖鏈路預(yù)算是你的網(wǎng)絡(luò)和應(yīng)用中允許的最大信號(hào)損失量,這個(gè)值是根據(jù)網(wǎng)絡(luò)實(shí)際情況和國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的損失量計(jì)算出來的。一條完整的光纖鏈路包括光纖、連接器和熔接點(diǎn),所以在計(jì)算光纖鏈路最大損失極限時(shí),要把這些因素全部考慮在內(nèi)。

  光纖通信鏈路中光能損耗的起因是由光纖本身的損耗、連接器產(chǎn)生的損耗和熔接點(diǎn)產(chǎn)生的損耗三部分組成的。但由于光纖的長度、接頭和熔接點(diǎn)數(shù)目的不定,造成光纖鏈路的測試標(biāo)準(zhǔn)不象雙絞線那樣是固定的,因此對(duì)每一條光纖鏈路測試的標(biāo)準(zhǔn)都必須通過計(jì)算才能得出。在EIA/TIA—568—B的光纖標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)定了光纖在各工作波長下的衰減率,每個(gè)耦合器和熔接點(diǎn)的衰減,這樣用以下公式就可以計(jì)算出光纖鏈路的衰減極限值:

  光纖鏈路衰減=光纖衰減+連接器衰減+熔接點(diǎn)衰減

  光纖衰減=光纖衰減系數(shù)(dB/km)×光纖長度(km)

  連接器衰減=連接器衰減/個(gè)×連接器個(gè)數(shù)

  熔接點(diǎn)衰減=熔接點(diǎn)衰減/個(gè)×熔接點(diǎn)個(gè)數(shù)

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