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USB3.0 Cable Assembly的測試與其他類別Cable雖然沒有多大的差別,但是其難易度卻值得探討:
難易度說明:
一顆星(簡單)--->五顆星(最難)
==>USB3.0 Cable Impedance::: ( * ) 90 Ohms +/- 7 Ohms.
對于Cable製造商來說,要生產(chǎn)90 Ohms +/- 7 Ohms的Cable基本上沒有問題.
==>USB3.0 Assembly Mated Impedance::: ( **** ) 90 Ohms +/- 15 Ohms.
目前雖然市面上的USB 3.0 Plug不多,但是要達(dá)到此一規(guī)格卻不容易,加上加工部分,若以以往的USB2.0角度來看待,此一參數(shù)就等著Fail.
如何達(dá)到PASS::選對Plug及小心加工
==>USB3.0 Assembly Intra Pair Skew:::(****) 15 ps/m
如果有生產(chǎn)過SATA的朋友們,到現(xiàn)在應(yīng)該還在困擾Skew的問題,同樣的在USB3.0上面,也遇到相同的問題.
==>USB3.0 Differential To Common Mode Conversion (SCD21)::: (*****) 20 dB maximum
此一參數(shù)在SATA中曾經(jīng)出現(xiàn)過,USB3.0也被加入,理由很簡單,使用的速度已經(jīng)越來越快(SATA III dara rates: 6Gbps; USB3.0 data rates: 5Gpbs)
測試上必須4 Port的Network Analyzer(網(wǎng)路分析儀).
簡單的說,他昰用來測試每一對STP的差異性,且與Skew有相關(guān)連,一旦Skew過大,此一參數(shù)也無法避免Fail.
為何會將此一參數(shù)用五顆星難度來表示,主要原因為雖然Cable可以達(dá)到此一規(guī)格(也很難),但是選用的Plug對稱性,及加工的對稱性也都會影響結(jié)果.
==>NEXT between USB2.0 and USB3.0 pairs::: ( **** )
USB3.0包含了傳統(tǒng)的USB2.0 D+/D-及新增加的SSRX及SSTX,此一測試在于USB2.0 對上USB3.0的NEXT.
此一參數(shù)的關(guān)鍵點(diǎn)在于兩個項目:
-->選用的Plug
-->加工段的處理
另外,此一參數(shù)從USB3.0 Type A測試與USB3.0 Type B測試會得到不同的結(jié)果.
==>USB3.0 NEXT::: ( **** )
此一參數(shù)的關(guān)鍵點(diǎn)在于兩個項目:
-->選用的Plug
-->加工段的處理
另外,此一參數(shù)從USB3.0 Type A測試與USB3.0 Type B測試會得到不同的結(jié)果.
==>FEXT Between USB2.0 and USB3.0:: ( **)
只要NEXT能夠Pass,此一參數(shù)也不會有問題.
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好!usb3.0 CABLE SKEW ****, ATT ******
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難易分析進(jìn)一步說明:
==>USB3.0 Assembly Attenuation (Insertion Loss):::
此一規(guī)格最找要取決于整個Cable Assembly的長度,換言之,
如果要生產(chǎn)1M (28AWG)的USB3.0,相對容易,但是若要生產(chǎn)3M (28AWG)的USB3.0則幾乎不可能達(dá)到.
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,先易而後難.克服困難.線材我司早已開發(fā)出來量產(chǎn)了.7
我覺得在這個產(chǎn)品上面,綫材部分克服了,成品加工也面臨很大的挑戰(zhàn)!
主要出現(xiàn)在差分轉(zhuǎn)共模及串音部分,怎麼考慮和效率劃上一個合理的等號。
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Great ! UP
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cable還好做一點(diǎn)
但是cable assembly就很難做了
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