1
2
3
低頻不過(guò)。。主要是你的銅太小。
不過(guò)0.55我感覺(jué)也太小了。。
4
衰減形成的原因
1. 只要是因?yàn)榻饘俚碾娮,網(wǎng)線是金屬的,是金屬就有電阻,有電阻就有衰減
2. 主要是金屬氧化層及接觸不良造成的,假的線材及接插件的用料和電鍍層都不符合規(guī)范,不僅造成串?dāng)_加大,也造成衰減加大。
3. 一般來(lái)說(shuō)衰減跟所用的材料的質(zhì)量和數(shù)量有關(guān)
4. 材料和線間的紐距是主要的原因
5. 當(dāng)然長(zhǎng)度也有關(guān)系
6. 電感、電容也會(huì)造成衰減
7. 衰減事都方面原因造成的,主要有導(dǎo)體材質(zhì),導(dǎo)體的大小,絕緣的厚度,還有就是導(dǎo)體再生產(chǎn)過(guò)程中扭曲的程度等等!
5
6
梅工在做新工藝了?0.55的導(dǎo)體做CAT6完全可以..你的4對(duì)衰減都不過(guò)...但3364應(yīng)該也沒(méi)問(wèn)體.要么就是你的絕緣層設(shè)計(jì)了.可能你的阻抗低了.絕緣做到0.99可以了,在根據(jù)節(jié)距微調(diào)一點(diǎn).要么就是你銅的質(zhì)量了.
7
衰減不過(guò)的另一個(gè)原因是絕緣介質(zhì)受潮,請(qǐng)檢查你們的絕緣芯線生產(chǎn)完畢后,存放的時(shí)間是否過(guò)長(zhǎng)?空氣中的水蒸氣滲入絕緣芯線內(nèi),導(dǎo)致低頻衰減不合格, 以上分析純屬個(gè)人意見(jiàn) , 因?yàn)槲宜景l(fā)生過(guò)此類(lèi)質(zhì)量問(wèn)題......
8
0.55導(dǎo)體沒(méi)問(wèn)題,我們一直做都是合格的,你可以試一下護(hù)套層做的松點(diǎn)!
9
10
11
和導(dǎo)體沒(méi)關(guān)系的,我們更小導(dǎo)體的都能合格。
這次是個(gè)特例,絕緣是24小時(shí)后使用,阻抗很好,不存在問(wèn)題的。
護(hù)套的松緊度有試過(guò),有改善,但是最小余量不是在1--3點(diǎn)幾MHz的時(shí)候,而是在20幾,40幾兆的時(shí)候,說(shuō)明衰減是不正常的。
其實(shí)也不是不合格,是余量比較小,比設(shè)計(jì)的要小很多,而且不正常,小余量的頻率點(diǎn)不是在最低頻的1點(diǎn)幾兆的時(shí)候。
正常的衰減余量應(yīng)該是在1--3點(diǎn)幾兆的時(shí)候,不是在這個(gè)頻率點(diǎn),而是在中間的幾十,100多MHz的時(shí)候,是不是說(shuō)明不正常的?
12
衰減余量小不是說(shuō)明很好嗎?能控制在0.1-02就很好.
不是在最低頻率點(diǎn).而是在中間頻率有波動(dòng).說(shuō)明你絕緣線徑不穩(wěn)......但你說(shuō)阻抗有很好,那就很異常了.
13
0.55作CAT6夠了。測(cè)試的時(shí)候采用的是對(duì)數(shù)測(cè)試還是線性測(cè)試。
或者將測(cè)試報(bào)告?zhèn)鬟^(guò)來(lái)看看:bruce-y-liu@vip.sohu.com
可幫你分析下
14
劉兄:0.55夠嗎。我個(gè)人感覺(jué)很困難。
15
0.55做CTA6 已經(jīng)足夠,因?yàn)槲覀円恢倍际怯?.55導(dǎo)體做的cat 6 , 排除你設(shè)備的不穩(wěn)定性比如(串聯(lián)絕緣外徑的不穩(wěn)定性,拉絲的不穩(wěn)定性,絞對(duì)張力的不穩(wěn)定性等等....),那么還有兩種可能導(dǎo)致你們的衰減不過(guò)
1、絕緣外徑偏小
2、掃描時(shí)間過(guò)短(如果你用網(wǎng)絡(luò)分析儀的話,即sweep time 選項(xiàng)),你不防調(diào)到20秒或者更大點(diǎn),我想ATT是可以通過(guò)的。
16
0.55夠了,調(diào)整下節(jié)距和絕緣;要不給我100M,給你測(cè)試看看。
Fluck測(cè)試不過(guò),使用NA更難通過(guò)。
17
衰減在中間頻率點(diǎn)余量小是不正常的,其實(shí)我是想知道不正常的原因.
能夠影響衰減到這種情況的究竟是什么原因
18
19
期待,都是高手。。。
20
這個(gè)問(wèn)題很蹊蹺,值得研究。
21
22
這么多高手,誰(shuí)收我這個(gè)剛?cè)腴T(mén)的小弟啊
23

24