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USB2.0 28#+22#衰減不合格？ - 無圖版
gcb186 --- 2017-09-20 11:20:25
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USB2.0 28#+22#衰減不合格？線材規(guī)格：OD:4.5[(7/0.127*0.85*1P白綠HDPE)+(17/0.16*1.25*2C/紅黑)+AL+7/0.12+64/0.10CCS編織]不良圖片：見附件
WHN --- 2017-09-20 11:58:04
2
節(jié)距多少
moveitgogo --- 2017-09-20 13:36:44
3
測試長度相對來講長了。
gcb186 --- 2017-09-20 14:30:17
4
白綠絞距做過25，也做過32mm都不行<div>長度3.09M</div>
gcb186 --- 2017-09-20 14:31:44
5
起始頻率結(jié)束頻率規(guī)格上限規(guī)格下限第 1 對
12 12 -- -0.67 -0.825
12 400 -- -0.67→-5.80 -0.825
MHz MHz dB dB Fail
12 12 -- -0.67 -0.825
12 400 -- -0.67→-5.80 -0.825
MHz MHz dB dB Fail
Ponfy --- 2017-09-20 14:37:57
6
導體要走正公差,導體絞距6-7看看行不,我們可以過三米
gcb186 --- 2017-09-20 15:20:20
7
絞距小了更不好？不知道是什么原因，<div>把白綠芯線改為0.75~0.8是不是會對衰減有幫助，請教各位專家？</div>
moveitgogo --- 2017-09-20 16:15:35
8
仔細看了下你的圖形，起始點的衰減較大，可以考慮把測試設備較正下后再測試。<div>
</div>
</div>
迷兒 --- 2017-09-20 17:10:06
9
坐等各路仙佛登場~~
DOE --- 2017-09-20 18:46:55
10
特性阻抗多少了？
DOE --- 2017-09-20 18:53:00
11
如果特性阻抗下限，可以適當?shù)脑黾咏^緣直徑。
如果特性阻抗已經(jīng)偏上限了，增加導體的直徑。
集合的節(jié)距在特定的范圍內(nèi)改善衰減的作用不大，導體節(jié)距也一樣。
另外按照測試的圖形，在400MHz就有dip，這個很不正常，建議優(yōu)先排除測試的問題。
Kitic --- 2017-09-20 22:07:38
12
我們的7/0.127的都是用0.13的來絞合，低頻走導體，一般都是導體絞合有問題，絞銅時張力不宜大，且要正規(guī)絞合。
sihe2012 --- 2017-09-20 23:27:43
13
看圖是測試不良造成，線沒毛病；28#/1P鍍錫銅我剛做一條可以過四米
gcb186 --- 2017-09-27 08:48:05
14
特性阻抗走上限，
gcb186 --- 2017-09-27 10:10:29
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現(xiàn)在我把芯線ID由原來0.85改為0.8，再次測試衰減OK,但是延遲差NG,標準100，實際測試521，什么原因？
moveitgogo --- 2017-09-27 15:24:59
16
<div>這能有什么原因呢，說明制程能力不好��！</div><div>影響延遲差的因素很多，在論壇里找找相關的解決辦法，以前有討論過。</div>gcb186:
現(xiàn)在我把芯線ID由原來0.85改為0.8，再次測試衰減OK,但是延遲差NG,標準100，實際測試521，什么原因？
apologize --- 2017-09-27 17:24:13
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阻抗做大，一定要大大大大大大
bida --- 2020-08-03 19:07:24
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要看特性阻抗是多少。阻抗大才把線徑做小。