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USB3.1 高頻測(cè)試衰減測(cè)試NG - 無圖版
huashengzi --- 2016-01-05 19:53:02
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USB3.1 高頻測(cè)試衰減 14~15G的時(shí)候掉天坑，48dB以上，為什么呢？
wangfuzhu --- 2016-01-06 08:15:11
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是退扭成纜嗎？
huashengzi --- 2016-01-06 18:36:04
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不好意思，未交代清楚，僅包帶就有此狀況，而且我是平行包帶。
hcyleo22 --- 2016-01-06 21:14:32
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突波不良一般為芯線不良
zhengliang --- 2016-01-07 16:31:50
5
要結(jié)合SKEW、SCD21一起分析。發(fā)報(bào)告出來看看
moveitgogo --- 2016-01-08 09:01:28
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我相信這個(gè)論壇里面是有人知道問題解決的關(guān)鍵點(diǎn)的，但是不一定會(huì)告訴你。至包帶這個(gè)工序，所涉及的物料就幾項(xiàng)，所涉及的工藝參數(shù)也沒幾個(gè)，你可以通過做多個(gè)樣品，改變這些參數(shù)，然后總結(jié)出規(guī)律。
xiuq555 --- 2016-01-08 10:54:36
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樓上解決了嗎？
amjjaj --- 2016-01-08 13:01:59
8
這個(gè)線材測(cè)試多長(zhǎng)？是一直都這樣還是這一次不好？其實(shí)衰減突降這個(gè)有兩種狀況導(dǎo)致。1.峭壁效應(yīng)這是導(dǎo)體截面所決定的。2.工藝加工過程傷到線身折到或擠壓，還有就是絕緣內(nèi)是不是有燒焦或雜質(zhì)等，這個(gè)是過程控制中導(dǎo)輪順不順暢眼模有沒有偏小或磨損所致。樓主說的太籠統(tǒng)了，按照這個(gè)方向應(yīng)該可以解決問題。
wangfuzhu --- 2016-01-18 08:27:01
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包帶工序也要用專用的USB3.1包帶機(jī)，傳統(tǒng)的包帶機(jī)很難到?jīng)]有這種凹坑。
usd332438 --- 2016-02-18 15:29:54
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可將發(fā)泡度提高,我所驗(yàn)證過的發(fā)泡度約37%左右,同時(shí)如果是對(duì)絞的線絞距可從小到大驗(yàn)證一下看看,也許有不錯(cuò)的收獲.
tian124 --- 2016-02-18 20:00:53
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什么結(jié)構(gòu)的？多長(zhǎng)的線啊，現(xiàn)在問題解決了？huashengzi:
USB3.1 高頻測(cè)試衰減 14~15G的時(shí)候掉天坑，48dB以上，為什么呢？