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MHL測(cè)試Common-mode Insertion Loss與CBUS Insertion Loss FAIL的測(cè)試影響因素有哪些?
請(qǐng)各大俠指教!
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這個(gè)問(wèn)題,我想要請(qǐng)LEO出山來(lái)回答了,才是最有權(quán)威性的,
期待LEO出來(lái)詳細(xì)分析下。。。
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MHL raw cable 測(cè)試最不好過(guò)的是 Common-mode Insertion Loss,特別在前制程因?yàn)榻拥丶捌帘蔚年P(guān)系基本上很難測(cè)過(guò),而且差異也特別大,圖形也比較怪異,我們經(jīng)過(guò)反復(fù)驗(yàn)證結(jié)構(gòu),前制程一般測(cè)試僅供參考,成品押出后再測(cè)基本都過(guò)了.
CBUS Insertion Loss 常常NG在0.3~100MHZ之間吧?
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我司的MHL這個(gè)參數(shù)從未發(fā)生測(cè)試不過(guò),應(yīng)是線(xiàn)對(duì)不平衡造成的,要控制好電容、線(xiàn)徑、同芯度等參數(shù)。
我司目前只是SCD21不穩(wěn)定,主要是低頻不過(guò),常出現(xiàn)連續(xù)測(cè)試幾條過(guò)幾條不過(guò)的情況。
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Common-mode Inseion Loss主要是芯線(xiàn)對(duì)地衰減,故地線(xiàn)與鋁箔要充分接觸,對(duì)絞時(shí)鋁箔要盡量包緊,節(jié)距不要太大。