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首頁 > 數據 高頻線纜

[USB] 安捷倫公司高速數字測試技術論壇

P:2008-12-10 10:06:59

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下則為安捷倫公司高速數字測試技術論壇的邀請函內容,其中有近日大家正討論得火熱的USB 3.0測試,供大家參考:

 

尊敬的_______先生/女士,您好!

眾所周知,當今數字技術飛速發(fā)展并且遍及各個行業(yè),計算機、數據通信、半導體、無線通訊等領域的工程師們正在進行著越來越復雜的產品研發(fā)。

在當前的計算機行業(yè),高速數字總線層出不窮,與射頻/微波技術相結合的高速數字設計不但要進行功能測量,還要必須解決信號完整性問題;總線技術由高速并行向高速串行總線發(fā)展,典型的新型高速串行總線如DisplayPort,HDMI1.3,PCI Express Gen2,SATA2/3USB2./3.0等等,典型的高速并行總線如DDR2/3/GDDR等等。

層出不窮的新技術對于從事數字設計和測量工作的技術人員,帶來了許多新的挑戰(zhàn),為了應對這些新技術所帶來的測試挑戰(zhàn),安捷倫科技將分別在深圳和上海舉辦為期一天的安捷倫公司高速數字測試技術論壇。本論壇面向新技術、新應用,安捷倫公司諸多擔任各主要行業(yè)標準測試應用的項目領頭人/一致性測試規(guī)范的編著者將直接為您講述目前的和即將的高速數字總線及其測試技術,您將有機會與安捷倫公司的這些資深的行業(yè)專家直接對話和討論。

此次研討會主要面向消費電子,計算機、數據通信、半導體等行業(yè)從事設計、測試和認證的工程師和工程管理人員,了解能加速設計和驗證過程的最新的測試解決方案會促使您的產品盡快進入市場。


時間及地點:

深圳

時間:20081216

地點:深圳海景酒店(深圳市南山區(qū)華僑城光僑街3-5號)

 


 

上海

時間:20081218

地點:上海南新雅華美達大酒店(上海市南京東路719號,九江路700號)

具體日程如下

時間

內容

08:3009:00

來賓簽到

09:0009:15

在應用與標準支持的角色中促成新技術的開發(fā)及部署

演講者:Jay Alexander安捷倫科技 網絡及數字解決方案事業(yè)部 市場部總經理

Jay早年在IBM從事機器人研發(fā),后來加入HP并隨后在HP與安捷倫的示波器與邏輯分析儀部門任職超過20年。他從生產測試工程師開始職業(yè)生涯,接著進入研發(fā)部門開始扮演開發(fā)安捷倫InfiniiumInfiniiVision兩大系列示波器的重要角色。任職策略計劃經理時,在他精心的策劃下,將示波器導入了具體應用的解決方案上。因此為安捷倫帶來重要的成長,并成為安捷倫對用戶深入了解的源泉。

在現職之前,Jay曾是示波器部門的總經理。他目前的職責也包括協(xié)助示波器在中國業(yè)務的成長。安捷倫在中國對研發(fā)與市場都做了重大的投資。

Jay 在西北大學獲得電子工程學士學位, 并在科羅拉多大學獲得理學碩士學位。 他是一位擁有執(zhí)照的專業(yè)工程師并且是電氣與電子工程學會(IEEE)資深會員,并擁有24項美國專利。

09:1510:00

USB3.0:挑戰(zhàn)超高速USB產品的開發(fā)

演講者:Chee-Kean Chan安捷倫科技USB產品測試經理

Chee-Kean2006年加入安捷倫科技并但任了2年的USB一致性測試產品經理。

在此之前,Chee-Kean在西部數據(West Digital)公司開始了他的職業(yè)生涯,他擔任應用工程師在存儲行業(yè)中提供硬盤驅動器測試解決方案。

Chee-Ke在英國斯旺西大學(University of Swansea,UK)攻讀數字與晶圓設計并獲得電子工程學位。在工作之余Chee-Kean非常享受慢跑與音樂所帶來的樂趣。

10:0011:30

PCI EXPRESS® 2.0 “超級公路的一致性測試

演講者:Rick Eads

Rick Eads是一位資深產品經理,他具有測試測量工具以及電子設計自動化軟件技術產業(yè)市場豐富的專業(yè)經驗:包括了計算機業(yè)、半導體業(yè)、有線及無線互聯(lián)、存儲以及航空航天。 Rick從事對突破性解決方案中對新的以及剛浮現的軟件及硬件產品需求做精密的產品定義及合成。 他在各工業(yè)標準組織中貢獻出他的技術領導才能并推動多項標準的發(fā)展,這包括 PCI Express,ExpressCard,FB-DIMMFBD),DDRHyperTransport,ExpressCard,SATA,以及InfiniBand。 他曾從事測量產品市場推廣工作,涵蓋了示波器、邏輯分析儀、微處理器仿真、ASIC仿真工具方案、及EDA工具。Rick在科羅拉多大學獲得MBA學位,主攻金融以及市場領域;他在Brigham Young大學獲得電子工程學士學位,主攻數字設計以及計算機架構。Rick擁有三項專利并發(fā)表過數項論文與技術文章。

11:3012:30

午餐

12:3013:40

SATA 3Gbps and 6Gbps一致性測試要求和測試方案

演講者:Bryan Kantack,安捷倫公司存儲設備測試方案的產品經理

Bryan專注于企業(yè)和網絡存儲物理層測試領域,是SATA/SAS物理層測試工作組的主要成員,一直致力于研究SATA主設備和從設備互容性測試及端口復用器設計。近年他還發(fā)表了數篇關于SSC(擴頻時鐘)設計與測試和抖動測量方面的論文。Kantack畢業(yè)于康薩斯州立大學電子工程專業(yè),獲學士學位,之后獲得科羅拉多大學金融專業(yè)碩士學位。業(yè)余時間他喜歡跑步、爬山以及和家人朋友在一起。

13:4013:50

休息

13:5014:50

為您的設計與項目團隊做好面對全新內存科技的準備

演講者:Perry Keller

Perry Keller 是安捷倫科技數字測試事業(yè)部的行業(yè)標準測試應用的項目領頭人,并且是安捷倫科技內存(記憶體)應用項目經理。他在安捷倫科技的軟件與系統(tǒng)工程、高速硬件與ASIC設計與驗證、軟件工程、產品市場推廣以及項目管理方面擁有超過25年的豐富經驗。Perry 1980年畢業(yè)于萊斯大學(Rice University)并獲得電子工程碩士學位。Perry已婚并有兩個可愛的小女兒,在閑暇時間Perry愛好自行車和滑雪。

Mr. Keller JEDEC 協(xié)會的重要職務:
為安捷倫科技的Principal Member 長達7
安捷倫科技在組織中的代表,并出任董事會主席/副主席
中國市場策略工作組董事會主席
JC40-5
邏輯驗證以及檢定子協(xié)會(Subcommittee
FBD
驗證工作組
JC-64.3 UFS
主控子協(xié)會
為下列主要會員:
JC-11
JC-16,JC-40JC-42以及JC-45協(xié)會
UFS
,DDR3驗證,LPDDRFuture NAND Flash TG

14:5015:00

休息

15:0016:10

安捷倫推動DP從實驗室走向市場

演講者:Brian Fetz

Brian Fetz,安捷倫公司高級應用工程師,長期專注于數字顯示接口技術。1983年畢業(yè)于圣劉易斯-奧比斯保加州州立理工大學,1991年獲愛達荷大學電子工程碩士學位。Brian的前一個項目是藍牙和信號完整性解決方案,之前他是專注于基站和移動測試產品的生產制造及測試的工程師。BrianVESAVideo Electronics Standards Association)協(xié)會董事會員。另外他還是Vera Water and Power協(xié)會(一個宣傳節(jié)水節(jié)能的民間環(huán)保協(xié)會)理事會成員。他目前擔任DisplayPort一致性測試規(guī)范的編著者。

16:1016:20

休息

16:2017:20

安捷倫在HDMI 1.3一致性測試市場中取得主導地位的測試技術

演講者:Brian Fetz

Brian Fetz,安捷倫公司高級應用工程師,長期專注于數字顯示接口技術。1983年畢業(yè)于圣劉易斯-奧比斯保加州州立理工大學,1991年獲愛達荷大學電子工程碩士學位。Brian的前一個項目是藍牙和信號完整性解決方案,之前他是專注于基站和移動測試產品的生產制造及測試的工程師。BrianVESAVideo Electronics Standards Association)協(xié)會董事會員。另外他還是Vera Water and Power協(xié)會(一個宣傳節(jié)水節(jié)能的民間環(huán)保協(xié)會)理事會成員。他目前擔任DisplayPort一致性測試規(guī)范的編著者。

17:2017:30

問與答,幸運抽獎


登記注冊的方法

  活動編號:MC18898

  請將回執(zhí)表傳真至:010-64390278,800-820-2816

  請致電:800-810-0189

  網上注冊,網址為:http://www.--tm.agilent.com.cn/tmo/events/mc18898/reg.asp

  發(fā)送電子郵件至:tm_asia@agilent.com


專體介紹

專題一. 當今對在應用與標準支持的角色中促成新技術的開發(fā)及部署

客戶期望新產品相對前一代產品在繼續(xù)提升系統(tǒng)性能及可靠性的同時降低成本。研發(fā)并部署新系統(tǒng)、器件以及接口技術是實現上述目標的關鍵所在。這通常需要微波與數字技術的聯(lián)姻,由此導致標準組織和系統(tǒng)架構以及設計與驗證團隊將技術開發(fā)引入到一個陌生的領域。安捷倫科技長期在數字技術以及射頻微波領域的設計與測量上具有不可撼動的優(yōu)勢與經驗,因此我們不斷被邀請到各大標準化組織中參與新總線標準及測試方法的制定。 我們支持新標準與應用的方式是專注在提供用戶與產業(yè)相關的測試夾具、測試軟件以及測量應用知識,這不僅僅是讓個別的設計團隊達成任務,也在推動這些新技術從實驗室走向市場最終實現產品化。




專題二. USB3.0:挑戰(zhàn)超高速USB產品的開發(fā)

在更高的系統(tǒng)帶寬需求驅動著高達數個Gbps的新高速串行互聯(lián)標準研發(fā)與應用。 480MbpsUSB 2.0對某些應用,已經成為系統(tǒng)性能的瓶頸,因此USB 3.0應運而生。USB 3.0的設計挑戰(zhàn)在于串行接口不僅需要工作在5Gbps的速度,而且必需和USB2.0兼容,同時電纜和連接器也要保證信號質量。本文將會介紹USB 3.0的架構性總覽,并討論USB3.0產品設計者將會面臨的重點設計關注事項以及挑戰(zhàn)。




專題三. PCI EXPRESS® 2.0 “超級公路的一致性測試

PCI EXPRESS® 2.0在兩倍于 PCI EXPRESS® 1.x 的速率上(5Gbps)工作。導致在物理層測試上有顯著的變化,同時還需要進行數據鏈路層以及傳輸層的一致性測試。本課程將會探討這些變化,告訴您如何驗證PCI-Ex 2.0主板以及插卡是否符合規(guī)范要求,確保您的產品能通過 PCI-SIG 的資質認證。此外,您還能獲得PCI Express 3.0方面的最新進展,這是一個8Gbps提速的PCI Express架構。




專題四. SATA 3Gbps and 6Gbps一致性測試要求和測試方案

SATA總線已經成為服務器、臺式機及移動計算平臺標準存儲接口。隨著固體硬盤的出現和6Gbps傳輸速率的成熟應用預計未來將在企業(yè)級存儲市場占據更大的市場份額。這些新技術進展在幫助SATA產品贏得更大市場空間和更多機會的同時,在設計上也帶來更多的挑戰(zhàn)。安捷倫科技作為關鍵的測試方案提供商,是SATA-IO會員和SATA設計團體的可信賴的合作伙伴。安捷倫從最早的設計規(guī)范制定,到提供領先的滿足客戶需要的前期芯片測試解決方案,再到最終成品的一致性測試都非;钴S。盡管SATA3.0最終規(guī)范不會早于2009年三月發(fā)布,本課程仍將就安捷倫規(guī)劃的SATA3.0規(guī)范測試認證解決方案作一介紹。




專題五. 為您的設計與項目團隊做好面對全新內存科技的準備

由于幾乎所有的數據均在控制器和內存之間經過唯一一次讀/寫,內存子系統(tǒng)往往成為任何設計的核心所在。只有在系統(tǒng)性能、消耗功率、成本以及可靠性中達到一個平衡,這樣才能在市場中獲得成功。此外,內存技術的發(fā)展大大促進了系統(tǒng)架構設計的選擇空間,同時設計團隊也面臨飛速發(fā)展的速度、集成度以及多樣性等隨之而來的更多挑戰(zhàn)。在本課程中我們會探討一下內存科技的現狀以及未來的發(fā)展方向,并討論您的設計和驗證團隊如何把握這些技術和趨勢,將您的產品以最佳成本率先導入市場。




專題六. 安捷倫推動DP從實驗室走向市場

本課程是介紹安捷倫在 DisplayPort 的標準上的研究與實踐。這對DisplayPort 的策略與執(zhí)行計劃是基于產業(yè)界與用戶對市場的預測和期待。我們會討論這些預測與期待是如何影響安捷倫在DP市場中的行為與參與,直至解決方案與產品的推出。




專題七. 安捷倫在HDMI 1.3一致性測試市場中取得主導地位的測試技術

本課程將介紹令安捷倫在HDMI 1.3一致性測試市場中取得主導地位的測試技術,這個課程由安捷倫公司HDMI 1.3測試技術主要的推手,Brian Fetz為您講述。




  歡迎您的光臨!

安捷倫科技有限公司 市場部

200812




[billmok 在 2008-12-10 10:10:39 編輯過]

wiring plan - 線路敷設圖 (0) 投訴

P:2008-12-10 17:08:13

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聽安捷倫的工程師說,是次論壇還包括午餐,但並不是在海景酒店,有點失望!

到時希望與各位交換下HDMI、USB 3.0和DisplayPort的制作心得,等著見...

DLTP - dilaurylthiodipropionate硫代二丙酸二月桂酯(一種抗氧劑) (0) 投訴

P:2009-03-23 08:26:59

3

DING

flowchart - 流程圖 (0) 投訴

P:2009-03-28 17:05:05

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UP

photosensitive macromolecular material - 感光高分子材料 (0) 投訴

4


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