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可靠性測(cè)試 | 測(cè)試方法 | 規(guī)格 |
導(dǎo)體阻抗 | JIS C-3002 | <3,000Ω/km |
絕緣體阻抗 | DC500V for 1 minute | >1,000MΩ |
絕緣體耐電壓 | AC500V for 1 minute | 不擊穿 |
阻抗特性 | TDR 方法 | Ref:Zo=120Ω,Zb=150Ω |
靜電容量 | 電容橋法,1kHz | Ref:Co=58 pF/m,Cb=38 F/m |
通電測(cè)試 | 通電測(cè)試儀,DC3V,0.1mA | 無(wú)開(kāi)路及短路 |
耐熱性 | 85°C,96小時(shí) | 絕緣體電阻及耐電壓正常 |
高/低溫循環(huán)測(cè)試 | -40°C×4hrs→85°C×4hrs→25°C×1hr (5次循環(huán)) | 絕緣體電阻及耐電壓正常 |
耐濕性 | 40°C,相對(duì)濕度95%,96小時(shí) | 絕緣體電阻及耐電壓正常 |
折線測(cè)試(0.035×0.7mm銅線) | 180°折彎測(cè)試 | 大于100回 |
柔軟測(cè)試(0.035×0.7mm 銅線) | 15mm半徑,每分鐘1000回,25mm伸縮距 | 大于15,000,000回 |
焊錫性 | 270°,3 sec | 90% 上錫.絕緣體回縮小于0.5mm |
絕緣膠紙延伸率 | JIS K6732 | >60% |
絕緣膠紙拉力 | JIS K6732 | >3.5kgf/m㎡ |
磨損測(cè)試 | ?0.5mm,600g,60cyc/min. | 大于10,000回 |
