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問(wèn)題:A導(dǎo)體導(dǎo)致線材外被后衰減偏大。
1對(duì)A導(dǎo)體不良品拆解檢測(cè)導(dǎo)體尺寸/電阻/鍍層厚度滿足要求。
2因A導(dǎo)體檢測(cè)未發(fā)現(xiàn)問(wèn)題就對(duì)所有材料進(jìn)行交叉驗(yàn)證(涉及導(dǎo)體/膠料/銅箔/麥拉/機(jī)臺(tái))。
3交叉驗(yàn)證發(fā)現(xiàn)任然是A導(dǎo)體的問(wèn)題(重復(fù)再現(xiàn)不良現(xiàn)象)使用A導(dǎo)體線材衰減偏大,使用B導(dǎo)體線材衰減測(cè)試OK
4驗(yàn)證中發(fā)現(xiàn)一個(gè)有趣的情況,A導(dǎo)體都是在外被押出后發(fā)現(xiàn)不良,B導(dǎo)體不會(huì),A導(dǎo)體的不良品經(jīng)過(guò)85度高溫烘烤后衰減會(huì)變好,95%都變好符合要求。
目前分析陷入死循環(huán),知道A導(dǎo)體造成衰減偏大,但A導(dǎo)體檢測(cè)符合規(guī)格要求,不知道哪里出問(wèn)題,請(qǐng)各位大佬同仁給點(diǎn)寶貴意見(jiàn)。
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游客:會(huì)不會(huì)是絕緣的問(wèn)題?氟塑料絕緣擠出要開預(yù)熱器抽真空,另外冷卻水槽,冷卻溫度也有說(shuō)法,這種根本問(wèn)題還是絕緣材料的結(jié)晶度、晶體形態(tài)和尺寸對(duì)高頻下的介電性能(特別是介電常數(shù)和損耗角正切)有顯著影響?
有交叉驗(yàn)證,同一包FEP (牌號(hào)3180),A導(dǎo)體與B導(dǎo)體芯押工藝是一致的,機(jī)臺(tái)是同一臺(tái)機(jī)器,B導(dǎo)體就不會(huì)衰減偏大。
