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我們生產(chǎn)了一根對絞屏蔽信號線，絕緣是微孔帶繞包，對絞后繞包一層鋁箔，然后將這對包鋁箔的信號線進行了特性阻抗、衰減、傳輸延時、直流電阻、電容和對地電容不平衡的測試，頻率為0.75~3MHz，其他項目都合格了，特性阻抗標準為120+/-12歐姆，實測為118~124歐姆。唯獨頻率范圍內(nèi)的衰減都不合格，是什么原因呢？<div>
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衰減不合格是低頻還是高頻段？如低頻段不過是導體直徑偏�。蝗缡歉哳l段不過是繞包帶問題，可能是絕緣變形或微孔太少（相當于發(fā)泡度不夠，介電常數(shù)偏高）。先將導體改成走上偏差的試一下，如不行再改包帶。

鋁箔鋁層不夠厚，造成低頻穿透，所以在3MHZ不合格，鋁層厚度可以考慮35-50U左右

可以在原鋁箔層上再繞包一層鋁箔嗎？如果可以，內(nèi)外兩層的金屬面要接觸嗎？<div>或者我把原鋁箔層除去，再重新繞包一層厚的鋁箔？</div>

鋁箔的厚度會對衰減有影響？？？哪位大神能從專業(yè)上講解一下

sa571328:
鋁箔鋁層不夠厚，造成低頻穿透，所以在3MHZ不合格，鋁層厚度可以考慮35-50U左右

<div>正解！</div>

同組線的長度控制一致，鋁箔，收線張力的大小

學習了

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